Asse Z a basso rumore per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica ad alta precisione

Il microscopio multifunzionale a forza atomica AtomEdge Pro consente la scansione 3D, l'imaging e la caratterizzazione di materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici e altri campioni su scala sub-nanometrica ed è ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei materiali, chimica e scienze ambientali, semiconduttori, microelettronica, biomedicina e altro ancora. Dotato di molteplici modalità operative tra cui contatto, maschiatura e senza contatto, offre agli utenti maggiore flessibilità e precisione di funzionamento. Inoltre, integra varie tecniche come la microscopia a forza magnetica, la microscopia a forza elettrostatica, la microscopia a scansione Kelvin e la microscopia a forza piezoelettrica, offrendo stabilità robusta ed eccellente espandibilità. Inoltre, i moduli funzionali possono essere personalizzati in modo flessibile per soddisfare le specifiche esigenze degli utenti, fornendo soluzioni su misura per particolari campi di ricerca e creando una piattaforma di ispezione multiuso altamente efficiente.

Microscopio a forza elettrostatica (EFM), Microscopio a scansione Kelvin (KPFM), Microscopio a forza piezoelettrica (PFM), Microscopio a scansione a forza atomica capacitiva (SCM), Microscopio a forza magnetica (MFM); Opzionale: microscopio conduttivo a forza atomica (C-AFM)