Geräuscharme Z-Achse für hochpräzise Charakterisierung von Nanomaterialien

Das multifunktionale Rasterkraftmikroskop AtomEdge Pro ermöglicht das 3D-Scannen, Abbilden und Charakterisieren von Materialien, elektronischen Geräten, biologischen Proben und anderen Proben im Subnanometerbereich und wird häufig in Bereichen wie Materialwissenschaften, Chemie und Umweltwissenschaften, Halbleitern, Mikroelektronik, Biomedizin und mehr eingesetzt. Mit mehreren Betriebsmodi, darunter Kontakt, Tippen und berührungslos, bietet es Benutzern mehr Flexibilität und Präzision bei der Bedienung. Darüber hinaus integriert es verschiedene Techniken wie Magnetkraftmikroskopie, elektrostatische Kraftmikroskopie, Raster-Kelvin-Mikroskopie und piezoelektrische Kraftmikroskopie und sorgt so für robuste Stabilität und hervorragende Erweiterbarkeit. Darüber hinaus können Funktionsmodule flexibel an spezifische Benutzeranforderungen angepasst werden, um maßgeschneiderte Lösungen für bestimmte Forschungsbereiche zu liefern und eine hocheffiziente, vielseitige Inspektionsplattform zu schaffen.

Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Raster-Kelvin-Mikroskop (KPFM), Piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM), Rasterkapazitives Rasterkraftmikroskop (SCM), Magnetkraftmikroskop (MFM); Optional: Konduktives Rasterkraftmikroskop (C-AFM)