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उच्च-सटीक नैनोस्केल सामग्री अभिलक्षण के लिए कम-शोर Z-अक्ष
कम-शोर Z-अक्ष परमाणु बल माइक्रोस्कोप
,उच्च-सटीक नैनोस्केल सामग्री अभिलक्षण
,एएफएम नैनोस्केल विश्लेषण के लिए Z-अक्ष
मूल गुण
व्यापारिक संपत्तियाँ
एटॉमएज प्रो मल्टीफंक्शनल एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप सामग्री, इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों, जैविक नमूनों,और अन्य नमूने, और व्यापक रूप से सामग्री विज्ञान, रसायन विज्ञान और पर्यावरण विज्ञान, अर्धचालकों, माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स, बायोमेडिसिन, और अधिक जैसे क्षेत्रों में उपयोग किया जाता है।संपर्क सहित कई ऑपरेटिंग मोड के साथ, टैप, और संपर्क रहित, यह उपयोगकर्ताओं को संचालन में अधिक लचीलापन और सटीकता प्रदान करता है। इसके अतिरिक्त यह चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी,इलेक्ट्रोस्टैटिक बल माइक्रोस्कोपी, स्कैनिंग केल्विन माइक्रोस्कोपी, और पिज़ोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोपी, मजबूत स्थिरता और उत्कृष्ट विस्तार प्रदान करते हैं।कार्यात्मक मॉड्यूल को विशिष्ट उपयोगकर्ता आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए लचीले ढंग से अनुकूलित किया जा सकता है, विशेष अनुसंधान क्षेत्रों के लिए अनुकूलित समाधान प्रदान करना और एक अत्यधिक कुशल, बहुउद्देश्यीय निरीक्षण मंच बनाना।
| पद | विनिर्देश |
|---|---|
| नमूना का आकार | 25 मिमी के व्यास के नमूनों के साथ संगत |
| स्कैनिंग विधि | XYZ तीन अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग |
| स्कैनिंग रेंज | 100 μm × 100 μm × 10 μm |
| स्कैनिंग दर | 0.1 हर्ट्ज - 30 हर्ट्ज |
| Z-अक्ष शोर स्तर | 0.04 एनएम |
| गैर-रैखिकता | XY दिशाः 0.02%; Z दिशाः 0.08% |
| छवि नमूनाकरण बिंदु | 32×32 - 4096×4096 |
| ऑपरेटिंग मोड | संपर्क मोड, टैप मोड, चरण इमेजिंग मोड, लिफ्ट मोड, बहु-दिशात्मक स्कैनिंग मोड |
इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (ईएफएम), स्कैनिंग केल्विन माइक्रोस्कोप (केपीएफएम), पिज़ोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोप (पीएफएम), स्कैनिंग कैपेसिटिव एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एससीएम), मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एमएफएम);वैकल्पिक: संवाहक परमाणु बल माइक्रोस्कोप (सी-एएफएम)
स्ट्रोंटियम टाइटनेट (STO)टैप मोड
Maze Domain औरएमटीजे स्टैक में स्कीर्मियनःएसएएफ/एमजीओ/टा/को/पीटी) 9चुंबकीय बल माइक्रोस्कोप (MFM)
बिस्मिथ वनाडेटपतली फिल्मस्केनिंगकेल्विन माइक्रोस्कोप (KPFM)
पेरोवस्किट (FAPbI3)प्रवाहकीय परमाणु बल माइक्रोस्कोप (सी-एएफएम)
