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Calidad Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión fábrica
Calidad Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión fábrica

Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión

Product Introduction The AtomEdge Pro Multifunctional Atomic Force Microscope enables sub-nanometer-scale 3D scanning, imaging and characterization of materials, electronic devices, biological samples, and other specimens, and is widely used in fields such as materials science, chemistry and environmental science, semiconductors, microelectronics, biomedicine, and more. Featuring multiple operating modes including contact, tapping, and non-contact, it offers users greater
Etiquetas:

Microscopio AFM

Sistemas de AFM

Microscopio de sonda de exploración
Detalles del producto
Resaltar:

Microscopio de fuerza atómica (AFM) con eje Z de bajo ruido

,

Caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión

,

Eje Z para análisis a nanoescala con AFM

Propiedades básicas

Lugar de origen: Porcelana
Nombre de la marca: Truth Instruments
Número de modelo: Atomedge Pro

Propiedades comerciales

Cantidad mínima de pedido: 1
Precio: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condiciones de pago: T/T
Descripción de producto
Introducción del Producto

El Microscopio de Fuerza Atómica Multifuncional AtomEdge Pro permite el escaneo, la obtención de imágenes y la caracterización 3D a escala subnanométrica de materiales, dispositivos electrónicos, muestras biológicas y otras muestras, y se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de materiales, la química y la ciencia ambiental, los semiconductores, la microelectrónica, la biomedicina y más. Con múltiples modos de funcionamiento, incluyendo contacto, tapping y sin contacto, ofrece a los usuarios mayor flexibilidad y precisión en la operación. Además, integra varias técnicas como la Microscopía de Fuerza Magnética, la Microscopía de Fuerza Electroestática, la Microscopía Kelvin de Barrido y la Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica, ofreciendo una estabilidad robusta y una excelente capacidad de expansión. Además, los módulos funcionales se pueden personalizar de forma flexible para satisfacer los requisitos específicos del usuario, ofreciendo soluciones a medida para campos de investigación particulares y creando una plataforma de inspección multipropósito y altamente eficiente.

Rendimiento del Equipo
Artículo Especificación
Tamaño de la Muestra Compatible con muestras con un diámetro de 25 mm
Método de Escaneo Escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ
Rango de Escaneo 100 μm × 100 μm × 10 μm
Velocidad de Escaneo 0.1 Hz - 30 Hz
Nivel de Ruido del Eje Z 0.04 nm
No linealidad Dirección XY: 0.02%; Dirección Z: 0.08%
Puntos de Muestreo de Imagen 32×32 - 4096×4096
Modo de Operación Modo de Contacto, Modo Tap, Modo de Imagen de Fase, Modo Lift, Modo de Escaneo Multidireccional
Mediciones Multifuncionales

Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopio Kelvin de Barrido (KPFM), Microscopio de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopio de Fuerza Atómica Capacitivo de Barrido (SCM), Microscopio de Fuerza Magnética (MFM); Opcional: Microscopio de Fuerza Atómica Conductivo (C-AFM)

Aplicaciones

Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión 0

Titanato de estroncio (STO)Modo Tap

Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión 1

Dominio de laberinto ySkyrmiones en MTJ Stack:SAF/MgO/Ta/Co/Pt)₉Microscopio de Fuerza Magnética (MFM)

Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión 2

Vanadato de bismutopelícula delgada EscaneoMicroscopio Kelvin (KPFM)

Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión 3

Perovskita (FAPbI₃) Microscopio de Fuerza Atómica Conductivo (C-AFM)

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