250 Nm Kerr-Mikroskop mit hoher Auflösung für magnetooptischen Kerr-Effekt

Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope Product Model: KMPL-S Equipment Description: This instrument enables high-resolution magnetic domain imaging of magnetic materials and spintronic chips, with a resolution of up to 250 nm. It is equipped with a highly intelligent control system and multifunctional magnetic field probe station, integrating optical imaging, multi-dimensional magnetic fields, electrical transport characterization, microwave testing, and

Umbauten:

Magneto-Optisches Kerr-Effekt Mikroskop

Hochauflösendes Mikroskop

Kerr-Bildgebungssystem

Produktdetails

Hervorheben:

250 Nm Kerr-Mikroskop

Kerr-Mikroskop mit hoher Auflösung

250 Nm magnetooptisches Kerr-Effekt-Mikroskop

Name: Kerr -Mikroskop

Electrical Source Meter: Keithley 6221, Keithley 2182a

In-Plane Magnetic Field: 1 T@Air Gap 5 mm, 0,5 T@Air Gap 10 mm;, 0,3 T@Air Gap 16 mm

Objectives: 5x, 20x, 50x, 100x, nichtmagnetisch

Vertical Magnetic Field: 0,25 T@Single Pole

Microsecond Ultrafast PulseVertical Magnetic Field: 60 mt, Steigerungszeit 0,5 US, Pulsbreite l US- 10 US

Optical Resolution: 250 Nm

Magnetic Field Resolution: PID Closed-Loop Feedback-Regulation, Auflösung 0,05 mt

Probe Station: Kompatibel mit 4 - 8 Sätzen nichtmagnetischer Sondenhalter

Grundlegende Eigenschaften

Herkunftsort: CHINA

Markenbezeichnung: Truth Instruments

Immobilienhandel

Preis: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Zahlungsbedingungen: T/t

Produkt-Beschreibung

Multifunktionales Spin-Test-Magneto-Optisches Kerr-Mikroskop

Produktmodell:

KMPL-S

Gerätebeschreibung:

Dieses Instrument ermöglicht die hochauflösende magnetische Domänenabbildung von magnetischen Materialien und Spintronik-Chips mit einer Auflösung von bis zu 250 nm. Es ist mit einem hochintelligenten Steuerungssystem und einer multifunktionalen Magnetfeld-Taststation ausgestattet, die optische Abbildung, mehrdimensionale Magnetfelder, elektrische Transportcharakterisierung, Mikrowellentests und variable Temperaturmodule integriert. Mit einer einzigen Knopfdruckbedienung können magnetische Dynamiken unter verschiedenen Anregungsbedingungen wie Magnetfeldern, Strömen, Spin-Orbit-Drehmoment und Spin-Transfer-Drehmoment beobachtet werden. Es verfügt über Magnetfelder mit schneller Reaktion im Mikrosekundenbereich für hochpräzise Messungen der magnetischen Domänengeschwindigkeit und DMI.

Geräteleistung

Optische Auflösung:	250 nm
Objektive:	5x,20x,50x,100x, nicht-magnetisch
In-Plane-Magnetfeld:	1 T@Luftspalt 5 mm; 0,5 T@Luftspalt 10 mm; 0,3 T@Luftspalt 16 mm
Vertikales Magnetfeld:	0,25 T@Einzelpol
Magnetfeldauflösung	PID-Regelung mit geschlossenem Regelkreis, Auflösung 0,05 mT
Mikrosekunden-Ultraschnelles Puls-Vertikalmagnetfeld	60 mT, Anstiegszeit 0,5 μs, Pulsbreite l μs - 10 μs
Taststation	Kompatibel mit 4-8 Sätzen nicht-magnetischer Sondenhalter
Elektrisches Quellenmessgerät	Keithley 6221, Keithley 2182A
Testfunktionen	Beobachtung der magnetischen Domänendynamik, globale/mikroregionale Hystereseschleifen-Kartierung basierend auf Kerr-Signalen, Messung der Domänenwandgeschwindigkeit, DMI-Messung, anomaler Hall-Widerstand, SOT-Schaltung, I-R-Hystereseschleifen-Scannen mit synchronisierter Kerr-Abbildung und Kurvenabbildung von Hall-Widerstandsänderungen in elektronischen Geräten unter Magnetfeld- und Stromvariationen, zusammen mit entsprechenden Kerr-Bildern

Verteilung der magnetischen Domänen in Dünnschichten

250 Nm Kerr-Mikroskop mit hoher Auflösung für magnetooptischen Kerr-Effekt 0 MgO(Substrat)/Co/PtSample**: Magnetische Defekte, die durch Gitterfehlanpassung zwischen MgO-Kristallsubstrat und Co verursacht werden.

250 Nm Kerr-Mikroskop mit hoher Auflösung für magnetooptischen Kerr-Effekt 1

Minderwertige magnetische Filme**: Schneeflockenartige magnetische Domänen während der Magnetisierungsumkehr.

250 Nm Kerr-Mikroskop mit hoher Auflösung für magnetooptischen Kerr-Effekt 2 Hochwertige magnetische Filme**Gleichmäßige magnetische Domänenstrukturen mit glatten Kanten.