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स्वचालित क्रायोजेनिक जांच स्टेशन चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन
Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DX-Cryo closed-loop cryogenic in-plane magnetic field probe station is designed for transport testing of magnetic materials and spintronic devices, making it the optimal choice for low-temperature magnetic transport measurements. The probe station provides comprehensive control and testing software for automated and systematic testing solutions. Users can monitor and control the temperature and
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:
स्वचालित क्रायोजेनिक जांच स्टेशन
,चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन
,स्वचालित चुंबकीय जांच स्टेशन
Name:
क्रायोजेनिक जांच स्टेशन
Vacuum:
कम तापमान वैक्यूम <1.2E-3PA
Magnetic Field:
वाटर-कूल्ड इलेक्ट्रोमैग्नेट, इन-प्लेन दिशा, ± 0.65 टी स्ट्रेंथ
Sample Space:
नमूना धारक व्यास 51 मिमी तक
Number Of Probe Arms:
4 जांच हथियार
Thermal Anchor:
जांच हथियार और नमूना चरण तापमान अंतर <10 k
Sample Rotation Range:
360 डिग्री
Probe Arm Stroke:
X+z, 50 मिमी -25 मिमी -25 मिमी
Vibration:
नमूना चरण कंपन <1 μM (पीक-टू-पीक)
मूल गुण
उत्पत्ति का स्थान:
चीन
ब्रांड नाम:
Truth Instruments
मॉडल संख्या:
PS1DX-CRYO
व्यापारिक संपत्तियाँ
कीमत:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें:
टी/टी
उत्पाद का वर्णन
क्रायोजेनिक इन-प्लेन चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन
उत्पाद का परिचय
PS1DX-Cryo बंद-लूप क्रायोजेनिक इन-प्लेन चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन चुंबकीय सामग्री और स्पिनट्रॉनिक उपकरणों के परिवहन परीक्षण के लिए डिज़ाइन किया गया है,इसे निम्न तापमान चुंबकीय परिवहन माप के लिए इष्टतम विकल्प बना रहा हैजांच स्टेशन स्वचालित और व्यवस्थित परीक्षण समाधानों के लिए व्यापक नियंत्रण और परीक्षण सॉफ्टवेयर प्रदान करता है।उपयोगकर्ता सॉफ्टवेयर के माध्यम से वास्तविक समय में जांच स्टेशन के तापमान और चुंबकीय क्षेत्र की निगरानी और नियंत्रण कर सकते हैं, और सेमीकंडक्टर सामग्री, सूक्ष्म/नैनो उपकरणों, चुंबकीय सामग्री और स्पिनट्रॉनिक उपकरणों के लिए परीक्षण अनुक्रमों को निष्पादित करें, जिसमें चुंबकीय प्रतिरोध, दूसरे हार्मोनिक,स्पिन टॉर्क - फेरोमैग्नेटिक अनुनाद, और स्पिन पंपिंग।
उपकरण प्रदर्शन
| उपकरण प्रदर्शन सूचक | विवरण |
|---|---|
| नमूना तापमान | <8 K-420 K |
| तापमान स्थिरता | <±20 mK (8 K-420 K) |
| चुंबकीय क्षेत्र | पानी से ठंडा विद्युत चुम्बक, विमान में दिशा, ±0.65 T ताकत |
| कंपन | नमूना चरण कंपन <1 μm (पीक से पीक) |
| वैक्यूम | निम्न तापमान वैक्यूम <1.2E-3Pa |
| प्रोब आर्म स्ट्रोक | एक्स-वाई-जेड, 50 मिमी-25 मिमी-25 मिमी |
| सुई की दूरी | 25 मिमी व्यास के भीतर कोई भी बिंदु |
| जांच हथियारों की संख्या | 4 जांच हथियार |
| थर्मल एंकर | प्रोब हाथ और नमूना चरण तापमान अंतर <10 K |
| नमूना स्थान | नमूना धारक का व्यास 51 मिमी तक |
| नमूना रोटेशन रेंज | 360 डिग्री |
| नमूना धारक प्रकार | जमीनी, समाक्षीय, त्रि-अक्षीय विकल्प |
| डीसी जांच | ZN50, टंगस्टन या बेरिलियम तांबा के लिए टॉप सामग्री |
| आवृत्ति सीमा | कम तापमान वाले समाक्षीय केबल के साथ 0-50 MHz, अर्ध-कठोर समाक्षीय केबल के साथ 0-1 GHz |
| माइक्रोवेव जांच | जीएसजी, टिप मटेरियल वोल्फ्रेम |
| आवृत्ति सीमा | K-प्रकार के कनेक्टर के साथ 0-40 GHz, 1.85 मिमी कनेक्टर के साथ 0-67 GHz |
| विद्युत लीक करंट | <100 fA@1 V |
| ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप | 0.75 X-3.75 X निरंतर ज़ूम |
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