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प्लेन में वेफर स्तर मैनुअल जांच स्टेशन चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन
Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The wafer-level manual in-plane magnetic field probe station PS1D-Manu8 is a high-precision device designed for wafer testing, suitable for electrical and magnetic measurements in laboratories and enterprises. It provides a highly uniform in-plane magnetic field to ensure stable testing environments and is compatible with multiple sample sizes to meet diverse testing needs. With manually adjustable
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:
वेफर स्तर मैनुअल जांच स्टेशन
,प्लेन प्रोब स्टेशन में
,चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन
Name:
मैनुअल जांच स्टेशन
Testing Functions:
आरएच परीक्षण
Magnetic Field Resolution:
पीआईडी बंद-लूप प्रतिक्रिया विनियमन, संकल्प 0.05 एमटी
Sample Size:
8-इंच और नीचे के साथ संगत
Magnetic Field Uniformity:
± 1%mm1 मिमी से बेहतर है
Magnetic Field Strength:
50 एमटी
Optical Magnification:
0.75 x-5 x
Probe Seat:
डीसी जांच के 4 समूह
मूल गुण
उत्पत्ति का स्थान:
चीन
ब्रांड नाम:
Truth Instruments
मॉडल संख्या:
PS1D-MANU8
व्यापारिक संपत्तियाँ
कीमत:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें:
टी/टी
उत्पाद का वर्णन
वेफर-स्तर मैनुअल इन-प्लेन चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन
उत्पाद का परिचय
वेफर-स्तर मैनुअल इन-प्लेन चुंबकीय क्षेत्र जांच स्टेशन PS1D-Manu8 एक उच्च परिशुद्धता उपकरण है जिसे वेफर परीक्षण के लिए डिज़ाइन किया गया है,प्रयोगशालाओं और उद्यमों में विद्युत और चुंबकीय माप के लिए उपयुक्तयह स्थिर परीक्षण वातावरण सुनिश्चित करने के लिए एक अत्यधिक समान इन-प्लेन चुंबकीय क्षेत्र प्रदान करता है और विभिन्न परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए कई नमूना आकारों के साथ संगत है।मैन्युअल रूप से समायोज्य एक्स/वाई-अक्ष विस्थापन और 360° रोटेशन के साथडीसी या माइक्रोवेव जांच के 4 समूहों से लैस, यह आसानी से चुंबकीय प्रतिरोध और अन्य परीक्षण कार्यों को प्राप्त करता है।PS1D-Manu8 कुशल और सटीक विद्युत/चुंबकीय माप और विश्लेषण में सहायता करेगा.
उपकरण प्रदर्शन
| उपकरण प्रदर्शन सूचक | विवरण |
|---|---|
| नमूना का आकार | 8 इंच और उससे कम के साथ संगत |
| चुंबकीय क्षेत्र की तीव्रता | 50 एमटी |
| चुंबकीय क्षेत्र की एकरूपता | ± 1%φ1 मिमी से बेहतर |
| चुंबकीय क्षेत्र का संकल्प | पीआईडी बंद-लूप फीडबैक विनियमन, संकल्प 0.05 mT |
| नमूना विस्थापन चरण | XY मैनुअल स्ट्रोक ±100 मिमी, समायोजन संकल्प 1 μm; Z-अक्ष स्ट्रोक 10 मिमी, समायोजन संकल्प 10 μm; T-अक्ष 360° रोटेशन, समायोजन संकल्प 0.05° |
| जांच सीट | डीसी जांच के 4 समूह |
| ऑप्टिकल आवर्धन | 0.75 X-5 X |
| स्रोत मीटर | N5173B, Keithley 6221, Keithley 2182A |
| परीक्षण कार्य | आरएच परीक्षण |
आवेदन के मामले
- चुंबकीय प्रतिरोध परीक्षण
- चुंबकीय प्रतिरोध परीक्षण
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