logo

Микроскоп Керра с постоянным магнитом, высокоразрешающий магнитооптический микроскоп Керра, 450 нм

Микроскоп Керра с постоянным магнитом Введение в продукт Разработанный для углубленных исследований материалов с постоянными магнитами, этот передовой прецизионный испытательный прибор обеспечивает высокоточное измерение и детальное наблюдение продольного, поперечного и вертикального магнитооптическ...
Детали продукта
Выделить:

Микроскоп Керра с постоянным магнитом

,

Керр микроскоп высокого разрешения

,

Магнитооптический микроскоп эффекта Керра 450 Нм

Name: Керр микроскоп
Temperature Stability: ± 50 мк
Objectives: 5 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×, высокотемпературная компенсация 50 ×, немагнитная
Variable Temperature Range: 298 К - 798 К
Optical Resolution: 450 нм
Vertical Magnetic Field: Магнит с водяным охлаждением, 2 T@Air Gap 8,5 мм; 1.3 T@Air Gap 12 мм
In-Plane Magnetic Field: Магнит с водяным охлаждением, 3 T@Air Gap 9,5 мм; 2 T@Air Gap 10 мм

Основные свойства

Место происхождения: КИТАЙ
Наименование марки: Truth Instruments
Номер модели: KMPL-PM

Торговая недвижимость

Цена: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Условия оплаты: T/T.
Характер продукции

 Микроскоп Керра с постоянным магнитом

Введение в продукт

Разработанный для углубленных исследований материалов с постоянными магнитами, этот передовой прецизионный испытательный прибор обеспечивает высокоточное измерение и детальное наблюдение продольного, поперечного и вертикального магнитооптического эффекта Керра в строгих условиях испытаний сильных магнитных полей, комнатной температуры и высокой температуры. Чтобы обеспечить стабильность образца во время испытаний под воздействием сильных магнитных сил, он оснащен воздушной плавающей перемещающейся платформой и специально разработанными устройствами фиксации образцов, что делает его идеальным для изучения процессов намагничивания и размагничивания материалов с постоянными магнитами и передовых микромагнитных технологий.

Производительность оборудования
Показатель производительности оборудования Описание
Оптическое разрешение 450 нм
Объективы 5*, 20*, 50*, 100*, высокотемпературный компенсированный 50*, немагнитный
Магнитное поле в плоскости Магнит с водяным охлаждением, 3 Тл при воздушном зазоре 9,5 мм; 2 Тл при воздушном зазоре 10 мм
Вертикальное магнитное поле Магнит с водяным охлаждением, 2 Тл при воздушном зазоре 8,5 мм; 1,3 Тл при воздушном зазоре 12 мм
Разрешение магнитного поля Регулировка с обратной связью по ПИД-закону, разрешение 0,05 мТл
Диапазон переменных температур 298 K - 798 K
Стабильность температуры ±50 мК
Функции тестирования Чтобы соответствовать характеристикам высокого коэрцитивного поля большинства материалов с постоянными магнитами, этот продукт обеспечивает четкие и стабильные изображения магнитных доменов в сильных магнитных полях и совместим с наблюдением продольных магнитных доменов при 773,15 K.
Примеры применения
Микроскоп Керра с постоянным магнитом, высокоразрешающий магнитооптический микроскоп Керра, 450 нм 0
  • Материал с постоянным магнитом из самарий-кобальта
    Условия испытаний: 100℃, объектив 20*; размагниченные образцы под обратным магнитным полем 1,5 Тл показывают дендритные магнитные домены.
Микроскоп Керра с постоянным магнитом, высокоразрешающий магнитооптический микроскоп Керра, 450 нм 1
  • Материал с постоянным магнитом из самарий-железа
    Условия испытаний: 25℃, RH43%; объектив 100*, под синусоидальным магнитным полем 1,3 Тл: появляются двойные кристаллические магнитные домены.
Микроскоп Керра с постоянным магнитом, высокоразрешающий магнитооптический микроскоп Керра, 450 нм 2
  • Материал с постоянным магнитом из самарий-кобальта
    Условия испытаний: 300℃, объектив 50*; высокотемпературное размагничивание при 300℃.
Микроскоп Керра с постоянным магнитом, высокоразрешающий магнитооптический микроскоп Керра, 450 нм 3
  • Материал с постоянным магнитом из самарий-кобальта
    Условия испытаний: 24℃, RH38%; объектив 100*; постоянное состояние показывает зону перехода магнитных доменов «тигровой шкуры».
Отправить запрос

Получите быструю цитату