Плоское магнитное поле 2 T Воздушный зазор 10 мм Наблюдение магнитной области с ПИД-регулятором с обратной связью по замкнутому контуру Разрешение магнитного поля

Описание продукта:

Микроскоп Керра — это современный прибор, предназначенный для магнитной микроскопии высокого разрешения, обеспечивающий непревзойденные характеристики при исследовании и анализе магнитных материалов и явлений. Оснащенный полным набором объективов, включая 5×, 20×, 50×, 100×, 50× с компенсацией высоких температур и немагнитный объектив, этот микроскоп обеспечивает исключительную универсальность для различных экспериментальных задач. Каждый объектив тщательно спроектирован для обеспечения точных изображений, что позволяет исследователям наблюдать мельчайшие магнитные структуры с высокой четкостью и детализацией.

Одной из выдающихся особенностей этого микроскопа Керра является впечатляющее оптическое разрешение 450 нанометров (Нм). Такой высокий уровень разрешения гарантирует, что даже мельчайшие магнитные домены и незначительные изменения магнитных свойств могут быть точно визуализированы. Оптическая система микроскопа оптимизирована для получения четких и высококонтрастных изображений, необходимых для детального магнитного анализа и исследований.

Микроскоп Керра оснащен надежной системой вертикального магнитного поля с магнитом с водяным охлаждением. Этот магнит способен генерировать напряженность магнитного поля до 2 Тесла (Тл) при воздушном зазоре 8,5 миллиметров (Мм) и 1,3 Тл при воздушном зазоре 12 Мм. Такие мощные магнитные поля позволяют проводить обширные эксперименты в различных магнитных условиях, позволяя с высокой точностью изучать магнитное поведение различных материалов. Система водяного охлаждения обеспечивает стабильную работу магнита за счет эффективного рассеивания тепла, что имеет решающее значение для поддержания постоянного магнитного поля во время длительных измерений.

Температурная стабильность является еще одним важным аспектом этого прибора: микроскоп Керра поддерживает колебания температуры в пределах ±50 милликельвинов (МК). Этот исключительный термоконтроль жизненно важен для высокотемпературных магнитных измерений, поскольку он предотвращает тепловой дрейф, который в противном случае мог бы поставить под угрозу точность и повторяемость экспериментальных результатов. Наличие 50-кратного объектива с компенсацией высоких температур еще больше повышает надежность работы этого микроскопа в условиях повышенных температур, что делает его идеальным для изучения магнитных явлений, зависящих от температуры.

Чтобы обеспечить точный контроль над магнитной средой, микроскоп Kerr оснащен системой разрешения магнитного поля, основанной на ПИД-регулировании с обратной связью с обратной связью. Этот сложный механизм управления обеспечивает разрешение магнитного поля до 0,05 миллитесла (МТ), гарантируя, что магнитное поле можно регулировать и стабилизировать с исключительной точностью. Такой точный контроль необходим для экспериментов, требующих деликатного манипулирования магнитными полями для исследования тонких эффектов или переходов в магнитных материалах.

Интеграция магнитного прибора с плавающим на воздухе предметным столиком в установку микроскопа Керра еще больше повышает его функциональность и удобство использования. Плавающий на воздухе столик обеспечивает плавное перемещение и позиционирование образцов без вибрации, что имеет решающее значение для магнитной микроскопии высокого разрешения. Такая конструкция сводит к минимуму механические помехи, которые могут ухудшить качество изображения или повлиять на магнитные измерения, тем самым повышая общую надежность и точность прибора.

Таким образом, микроскоп Керра сочетает в себе оптику высокого разрешения, мощную и стабильную генерацию магнитного поля, точный контроль температуры и усовершенствованную регулировку магнитного поля, создавая современную платформу для магнитных исследований. Его надежные характеристики делают его особенно подходящим для высокотемпературных магнитных измерений и детальных исследований, требующих магнитной микроскопии высокого разрешения. Независимо от того, используется ли этот инструмент для фундаментальных исследований или прикладного материаловедения, этот инструмент предлагает исследователям комплексное и надежное решение для изучения магнитных явлений с непревзойденной четкостью и точностью.

Функции:

• Название продукта: Микроскоп Керра
• Наблюдение магнитных доменов с использованием магнитооптического эффекта Керра
• Вертикальное магнитное поле: магнит с водяным охлаждением, 2 Тл при воздушном зазоре 8,5 мм и 1,3 Тл при воздушном зазоре 12 мм.
• Оптическое разрешение: 450 нм для точного изображения.
• Объективы: 5×, 20×, 50×, 100×, 50× с компенсацией высоких температур и немагнитные варианты.
• Переменный температурный диапазон: 298–798 К, ​​подходит для высокотемпературных магнитных измерений.
• Разрешение магнитного поля: ПИД-регулирование с обратной связью по замкнутому контуру с разрешением 0,05 мТл.

Технические параметры:

Приложения:

Микроскоп Керра, модель KMPL-PM от Truth Instruments, представляет собой усовершенствованный микроскоп Керра с постоянными магнитами, предназначенный для магнитной микроскопии высокого разрешения. Этот прецизионный прибор китайского производства идеально подходит для исследовательских институтов, университетов и промышленных лабораторий, специализирующихся на анализе магнитных материалов и магнитооптических исследованиях. Его способность работать в диапазоне переменных температур от 298 К до 798 К позволяет исследователям исследовать магнитные свойства в различных температурных условиях, предоставляя бесценные данные для материаловедческих и инженерных проектов.

Эта модель микроскопа Керра оснащена сложной системой вертикального магнитного поля с водяным охлаждением, обеспечивающей силу до 2 Тл при воздушном зазоре 8,5 мм и 1,3 Тл при воздушном зазоре 12 мм. Такая конфигурация необходима для экспериментов, требующих контролируемой и стабильной магнитной среды. ПИД-регулирование с обратной связью по замкнутому контуру обеспечивает разрешение магнитного поля 0,05 мТл, что позволяет точно манипулировать магнитными доменами и наблюдать за ними. Этот уровень контроля жизненно важен для передовых исследований в области спинтроники, магнитных носителей информации и разработки магнитных датчиков.

Оснащенный универсальным набором объективов, в том числе 5×, 20×, 50×, 100× и немагнитным объективом с компенсацией высоких температур 50×, KMPL-PM предлагает исключительные возможности визуализации. Этот диапазон увеличений поддерживает детальный анализ поверхности и визуализацию доменов в различных масштабах, что делает его пригодным как для образовательных демонстраций, так и для сложных научных исследований. Объектив с высокотемпературной компенсацией обеспечивает стабильные оптические характеристики даже при повышенных температурах, повышая надежность результатов магнитной микроскопии с высоким разрешением.

Температурная стабильность является решающим фактором в магнитной микроскопии, а микроскоп Kerr компании Truth Instruments отличается замечательной стабильностью ±50 мК. Такая точность гарантирует, что тепловые колебания не ухудшат качество изображения или точность измерений во время длительных экспериментов. Следовательно, KMPL-PM идеально подходит для таких приложений, как исследования магнитных фазовых переходов, определение характеристик тонких пленок и динамика магнитных доменов при комбинированных тепловых и магнитных воздействиях.

Таким образом, микроскоп Керра с постоянным магнитом Truth Instruments KMPL-PM — это мощный инструмент для магнитной микроскопии высокого разрешения в различных исследовательских и промышленных сценариях. Его расширенные функции, в том числе широкий температурный диапазон, надежный контроль магнитного поля и высококачественная оптика, делают его незаменимым для тех, кто стремится исследовать магнитные явления на микромасштабе с исключительной четкостью и точностью.