logo

Tri Temp เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็ก เครื่องทดสอบสุดท้ายที่หลากหลายสําหรับการตรวจสอบความน่าเชื่อถือสูง

Tri Temp Magnetic Chip Tester For High Reliability Verification Product Description: Introducing the Magnetic Chip Final Test Machine, a cutting-edge product designed for non-destructive testing in the semiconductor industry. This advanced MRAM tester is equipped with state-of-the-art features to ensure accurate and reliable testing results. The Electric Displacement Stage Module of the Magnetic Chip Final Test Machine offers precise control with a θ-axis Adjustment Range of
รายละเอียดสินค้า
เน้น:

เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็ก Tri Temp

,

เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็ก ทันสมัย

,

เครื่องทดสอบสุดท้ายที่มีความสามารถหลากหลาย

Excitation system2: ความสม่ำเสมอของสนามแม่เหล็ก X-Axis คือ≤± 1%@2000 OE@φ35มม. พื้นที่ทรงกลม;
Test Ambient Temperature Module: อุณหภูมิ overshoot ≤0.5° C
Excitation system1: ความเข้มของสนามแม่เหล็กสูงสุดบนแกน x คือ± 2000 OE;
Excitation system4: ความละเอียดของการตรวจสอบสนามแม่เหล็กคือ≤10μt
Electric Displacement Stage Module: ช่วงการปรับแกนθ: ± 180 °; ความแม่นยำในการหมุน≤1°; ติดตั้งตัวเข้ารหัสตำแหน่งสัมบูรณ์
Excitation system3: ค่าศูนย์ที่แท้จริงของสนามแม่เหล็กภายใต้สนามแม่เหล็กเป็นศูนย์คือ≤0.1 OE;

คุณสมบัติพื้นฐาน

ชื่อแบรนด์: Truth Instruments
เลขรุ่น: MCT 500

การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์

ราคา: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
เงื่อนไขการจ่ายเงิน: t/t
คําอธิบายสินค้า

เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็ก Tri Temp สำหรับการตรวจสอบความน่าเชื่อถือสูง

รายละเอียดสินค้า:

ขอแนะนำเครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้าย ซึ่งเป็นผลิตภัณฑ์ล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการทดสอบแบบไม่ทำลายในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ เครื่องทดสอบ MRAM ขั้นสูงนี้มาพร้อมกับคุณสมบัติล้ำสมัยเพื่อให้มั่นใจถึงผลการทดสอบที่แม่นยำและเชื่อถือได้

Electric Displacement Stage Module ของเครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้ายมีการควบคุมที่แม่นยำด้วยช่วงการปรับ θ-axis ที่ ±180° และความแม่นยำในการหมุน ≤1° โมดูลนี้ยังมาพร้อมกับ Absolute Position Encoder ซึ่งให้การควบคุมและความสามารถในการทำซ้ำที่เหนือกว่าในระหว่างกระบวนการทดสอบ

Excitation System4 ในเครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้ายมี Magnetic Field Monitor ความละเอียดสูงที่มีความละเอียด ≤10 μT ระบบนี้ช่วยให้มั่นใจได้ว่าการกระตุ้นสนามแม่เหล็กถูกควบคุมอย่างแม่นยำ ทำให้ได้ผลการทดสอบที่แม่นยำและสอดคล้องกัน

Excitation System2 ของเครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้ายมีความสม่ำเสมอเป็นพิเศษของสนามแม่เหล็กแกน X โดยมีค่าความคลาดเคลื่อน ≤±1% ที่ 2000 Oe ในพื้นที่ทรงกลม Φ35 มม. ความสม่ำเสมอในระดับนี้ช่วยให้มั่นใจได้ว่าการกระจายสนามแม่เหล็กมีความสอดคล้องกันทั่วทั้งตัวอย่างทดสอบ ทำให้ได้ผลลัพธ์การทดสอบที่เชื่อถือได้

Test Ambient Temperature Module ของเครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้ายรักษาสภาพแวดล้อมการทดสอบที่เสถียร โดยมีค่า Temperature Overshoot ≤0.5°C โมดูลนี้ช่วยให้มั่นใจได้ว่าการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิจะไม่ส่งผลกระทบต่อกระบวนการทดสอบ ทำให้ได้ผลลัพธ์ที่แม่นยำและทำซ้ำได้

Excitation System1 ของเครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้ายให้ความเข้มของสนามแม่เหล็กที่ทรงพลังบนแกน X โดยมีความเข้มสูงสุด ±2000 Oe ความเข้มของสนามแม่เหล็กสูงนี้ช่วยให้สามารถทดสอบชิปแม่เหล็กได้อย่างละเอียด ทำให้มั่นใจได้ว่าคุณสมบัติแม่เหล็กที่ละเอียดอ่อนจะถูกวัดอย่างแม่นยำ

เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้ายได้รับการออกแบบมาสำหรับการใช้งานทดสอบแบบ tri-temp ซึ่งเป็นเครื่องมืออเนกประสงค์ที่ตรงตามข้อกำหนดที่เข้มงวดของกระบวนการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์สมัยใหม่ ไม่ว่าจะทดสอบอุปกรณ์ MRAM หรือส่วนประกอบแม่เหล็กอื่นๆ เครื่องนี้ให้ประสิทธิภาพและความน่าเชื่อถือที่เหนือกว่า

 

คุณสมบัติ:

  • ชื่อผลิตภัณฑ์: เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้าย
  • Excitation System1: ความเข้มของสนามแม่เหล็กสูงสุดบนแกน X คือ ±2000 Oe;
  • Excitation System2: ความสม่ำเสมอของสนามแม่เหล็กแกน X คือ ≤±1%@2000 Oe@Φ35 มม. พื้นที่ทรงกลม;
  • Excitation System3: ค่า True Zero ของสนามแม่เหล็กภายใต้สนามแม่เหล็กเป็นศูนย์คือ ≤0.1 Oe;
  • Excitation System4: ความละเอียดของ Magnetic Field Monitor คือ ≤10 μT
  • Electric Displacement Stage Module: ช่วงการปรับ θ-axis: ±180°; ความแม่นยำในการหมุน ≤1°; พร้อมด้วย Absolute Position Encoder
 

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

Excitation System2 ความสม่ำเสมอของสนามแม่เหล็กแกน X คือ ≤±1%@2000 Oe@Φ35 มม. พื้นที่ทรงกลม
Excitation System1 ความเข้มของสนามแม่เหล็กสูงสุดบนแกน X คือ ±2000 Oe
Excitation System3 ค่า True Zero ของสนามแม่เหล็กภายใต้สนามแม่เหล็กเป็นศูนย์คือ ≤0.1 Oe
Test Ambient Temperature Module Temperature Overshoot ≤0.5°C
Excitation System4 ความละเอียดของ Magnetic Field Monitor คือ ≤10 μT
Electric Displacement Stage Module ช่วงการปรับ θ-axis: ±180°; ความแม่นยำในการหมุน ≤1°; พร้อมด้วย Absolute Position Encoder
 

การใช้งาน:

เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้าย Truth Instruments (รุ่น: MCT 500) เป็นผลิตภัณฑ์ล้ำสมัยที่ออกแบบและผลิตในประเทศจีน ซึ่งตอบสนองต่อโอกาสและสถานการณ์การใช้งานผลิตภัณฑ์ที่หลากหลาย เครื่องจักรที่เป็นนวัตกรรมใหม่นี้มาพร้อมกับ Excitation Systems ขั้นสูงที่รับประกันประสิทธิภาพที่เหนือกว่า:

- Excitation System1: ความเข้มของสนามแม่เหล็กสูงสุดบนแกน X คือ ±2000 Oe ทำให้เหมาะสำหรับการใช้งาน Final Test ที่ต้องการความเข้มของสนามแม่เหล็กสูง

- Excitation System2: ความสม่ำเสมอของสนามแม่เหล็กแกน X คือ ≤±1%@2000 Oe@Φ35 มม. พื้นที่ทรงกลม ทำให้มั่นใจได้ถึงผลการทดสอบที่แม่นยำและถูกต้องในสภาพแวดล้อม Tri-temp

- Excitation System3: ค่า True Zero ของสนามแม่เหล็กภายใต้สนามแม่เหล็กเป็นศูนย์คือ ≤0.1 Oe รับประกันประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้และสอดคล้องกันในระหว่างการทดสอบ Automated Chip Prober

- Excitation System4: ความละเอียดของ Magnetic Field Monitor คือ ≤10 μT ให้การวัดผลโดยละเอียดและแม่นยำสำหรับสถานการณ์การทดสอบต่างๆ

นอกจากนี้ Electric Displacement Stage Module ของ MCT 500 ยังมีความยืดหยุ่นและความแม่นยำเพิ่มเติม:

- ช่วงการปรับ θ-axis: ±180° ทำให้สามารถวางตำแหน่งได้หลากหลายในระหว่างขั้นตอน Final Test

- ความแม่นยำในการหมุน ≤1° ทำให้มั่นใจได้ถึงการจัดตำแหน่งที่แม่นยำสำหรับข้อกำหนดการทดสอบ Tri-temp

- พร้อมด้วย Absolute Position Encoder ทำให้สามารถวางตำแหน่งได้อย่างแม่นยำและทำซ้ำได้สำหรับการใช้งาน Automated Chip Prober

ด้วยส่วนประกอบคุณภาพสูง คุณสมบัติขั้นสูง และประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้ เครื่องทดสอบชิปแม่เหล็กขั้นสุดท้าย Truth Instruments MCT 500 จึงเป็นโซลูชันที่สมบูรณ์แบบสำหรับโอกาสและสถานการณ์การใช้งานผลิตภัณฑ์ที่หลากหลาย ไม่ว่าคุณจะดำเนินการตามขั้นตอน Final Test การทดลอง Tri-temp หรือการทดสอบ Automated Chip Prober เครื่องจักรที่เป็นนวัตกรรมใหม่นี้ให้ผลลัพธ์ที่ยอดเยี่ยมและตรงตามข้อกำหนดที่เข้มงวดของสภาพแวดล้อมการทดสอบสมัยใหม่

ส่งคำถาม

ขอใบเสนอราคาด่วน