
Düşük Sıcaklık Yüksek Alan Lazer Kerr Mikroskobu Mikro Bölge Görüntüleme Mikroskobu
Düşük sıcaklıklı Kerr Mikroskopu
,Lazer Kerr Mikroskopu
,Mikro Bölge Görüntüleme Mikroskobu
Temel özellikler
Ticaret Mülkleri
Mikro Bölge Görüntüleme için Düşük Sıcaklık Yüksek Alanlı Lazer Kerr Mikroskobu
Ürün Açıklaması:
Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi, düşük sıcaklık manyeto-optik çalışmaları için tasarlanmış, manyetik malzemelerin hassas analizi için yüksek çözünürlüklü görüntüleme yetenekleri sunan, son teknoloji bir araştırma aracıdır.
450 Nm'lik etkileyici bir optik çözünürlüğe sahip olan bu sistem, araştırmacılara numunelerin nanometre seviyesinde ayrıntılı görüntülerini sunarak manyetik özelliklerin derinlemesine incelenmesini sağlar.
Su soğutmalı bir mıknatıs içeren bu sistemin düzlem içi manyetik alanı, oda sıcaklığında 18 mm'lik bir hava boşluğunda 1 T'ye ulaşır. Düşük sıcaklıklarda, manyetik alan gücü, 28 mm'lik bir hava boşluğu ile 0,75 T olarak kalır ve çeşitli deneysel koşullarda güvenilir performans sağlar.
Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi, manyetik alan kontrolü için PID kapalı döngü geri besleme düzenlemesi ile donatılmıştır ve 0,05 MT'lik bir manyetik alan çözünürlüğü sunar. Bu hassas düzenleme, araştırmacıların deneyler sırasında manyetik alan parametrelerini doğru bir şekilde manipüle etmelerini sağlayarak tutarlı ve güvenilir sonuçlar sağlar.
Görüntüleme yetenekleri söz konusu olduğunda, bu sistem 5 μm'lik bir lazer spot boyutuna sahiptir ve numunelerin odaklanmış ve ayrıntılı görüntülenmesini sağlar. Bu sistem tarafından sağlanan yüksek kaliteli görüntüleme, manyetik malzemelerin ve yapıların karmaşık ayrıntılarını yakalamak için gereklidir.
Ayrıca, bu sistemin Kerr açısı çözünürlüğü etkileyici bir 0,5 Mdeg (RMS) olup, manyetik özelliklerin yüksek doğrulukla hassas ölçümünü sağlar. Araştırmacılar, düşük sıcaklık manyetik karakterizasyon çalışmaları için doğru ve güvenilir veriler sağlamak üzere bu sisteme güvenebilirler.
Özetle, Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi, araştırmacılara yüksek çözünürlüklü görüntüleme yetenekleriyle düşük sıcaklık manyeto-optik deneyler yürütmek için güçlü bir araç sunar. Gelişmiş özellikleri ve hassas kontrol mekanizmaları ile bu sistem, malzemelerin manyetik özelliklerini düşük sıcaklıklarda benzersiz bir doğruluk ve detayla keşfetmek isteyen araştırmacılar için idealdir.
Özellikler:
- Ürün Adı: Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi
- Değişken Sıcaklık Aralığı: 4,2 K - 420 K
- Lazer Noktası: 5 μm
- Objektifler: 5*, 20*, 50*, 100*, Manyetik olmayan
- Düzlem İçi Manyetik Alan: Su soğutmalı Mıknatıs, Oda Sıcaklığında 18 Mm Hava Boşluğunda 1 T; Düşük Sıcaklıkta 28 Mm Hava Boşluğunda 0,75 T
- Optik Çözünürlük: 450 Nm
Teknik Parametreler:
Manyetik Alan Çözünürlüğü | PID Kapalı döngü Geri Besleme Düzenlemesi, Çözünürlük 0,05 MT |
Elektriksel Kaynak Ölçer | SR830, Keithley 6221, Keithley 2182 A |
Optik Çözünürlük | 450 Nm |
Sıcaklık Kararlılığı | ±50 MK |
Dikey Manyetik Alan | Su soğutmalı Mıknatıs, Oda Sıcaklığında 10,5 Mm Hava Boşluğunda 1,6 T; Düşük Sıcaklıkta 24 Mm Hava Boşluğunda 1 T |
Objektifler | 5*, 20*, 50*, 100*, Manyetik olmayan |
Kerr Açısı Çözünürlüğü | 0,5 Mdeg (RMS) |
Değişken Sıcaklık Aralığı | 4,2 K - 420 K |
Lazer Noktası | 5 μm |
Düzlem İçi Manyetik Alan | Su soğutmalı Mıknatıs, Oda Sıcaklığında 18 Mm Hava Boşluğunda 1 T; Düşük Sıcaklıkta 28 Mm Hava Boşluğunda 0,75 T |
Uygulamalar:
Truth Instruments'ın Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi, model KMPL-L, çeşitli araştırma ve endüstriyel ortamlarda zayıf manyetik malzemelerin hassas görüntülenmesi için tasarlanmış, son teknoloji bir üründür. 450 Nm'lik bir optik çözünürlüğe ve 5 μm'lik bir lazer spot boyutuna sahip olan bu sistem, karmaşık manyetik yapıları incelemek için çok önemli olan yüksek çözünürlüklü görüntüleme yetenekleri sunar.
0,5 Mdeg (RMS) Kerr Açısı Çözünürlüğü, incelenen malzemelerin manyetik özelliklerinin doğru ölçülmesini sağlar. Su soğutmalı mıknatıs tarafından üretilen dikey manyetik alan, oda sıcaklığında 10,5 mm'lik bir hava boşluğunda 1,6 T'ye ve düşük sıcaklıkta 24 mm'lik bir hava boşluğunda 1 T'ye ulaşır. Bu özellik, araştırmacıların manyetik alanları hassas bir şekilde manipüle etmelerini sağlar ve bu da onu kriyojenik manyetik görüntüleme uygulamaları için ideal hale getirir.
Çin'den gelen bu gelişmiş görüntüleme sistemi, SR830, Keithley 6221 ve Keithley 2182 A dahil olmak üzere en üst düzey elektriksel kaynak ölçerlerle donatılmıştır. Bu cihazlar, güvenilir ve istikrarlı elektriksel ölçümler sağlayarak sistemin genel performansını artırır.
Truth Instruments'ın Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi, çok çeşitli ürün uygulaması durumları ve senaryoları için mükemmeldir. Malzeme bilimi, fizik ve mühendislik alanındaki araştırmacılar, bu sistemi zayıf manyetik malzemelerin ayrıntılı analizi için kullanabilirler. Yüksek çözünürlüklü görüntüleme yetenekleri, onu manyetik alanları, alan duvarlarını ve diğer manyetik fenomenleri hassas bir şekilde incelemek için vazgeçilmez bir araç haline getirir.
İster manyetik nanomateryalleri, ince filmleri veya manyetik cihazları araştırıyor olun, bu sistem benzersiz bir doğruluk ve performans sunar. Kriyojenik sıcaklıklarda çalışma ve yüksek manyetik alanlar üretme yeteneği, onu son teknoloji manyetik malzeme ve cihazlar üzerinde çalışan araştırmacılar için çok yönlü bir çözüm haline getirir. Kriyojenik Yüksek Manyetik Alanlı Lazer Kerr Mikro Görüntüleme Sistemi, gelişmiş manyetik görüntüleme yetenekleri gerektiren herhangi bir laboratuvar veya tesis için olmazsa olmazdır.