Yüksek Vakumlu 4 K Prob: 0-67 GHz, 4-8 Kol ve Uygun Maliyetli Elektriksel Karakterizasyon

Ürün Açıklaması:

Kriyojenik Prob İstasyonu, hassas kriyojenik elektriksel karakterizasyon (I-V/C-V) ölçümleri için tasarlanmış gelişmiş ve çok yönlü bir cihazdır. Düşük sıcaklıklı yarı iletken cihazlar, kuantum malzemeleri ve diğer kriyojenik uygulamalarla çalışan araştırmacıların ve mühendislerin zorlu gereksinimlerini karşılamak üzere tasarlanmıştır. Bu prob istasyonu, 4 K ile 420 K arasında değişen sıcaklıklarda kapsamlı elektriksel testleri kolaylaştırmak için esneklik, doğruluk ve güvenilirliği birleştiren olağanüstü bir performans sunar.

Bu kriyojenik prob istasyonunun temel özelliklerinden biri, Zemin, Koaksiyel ve Tria eksenel konfigürasyonları içeren numune tutucu seçenekleridir. Bu seçenekler, kullanıcıların kurulumu özel ölçüm ihtiyaçlarına göre özelleştirmelerine, optimum sinyal bütünlüğü ve gürültü azaltma sağlamalarına olanak tanır. Farklı numune tutucu türlerinin mevcudiyeti, çok çeşitli cihazlar ve deneysel kurulumlar için uygun hale getirerek araştırmacıların minimum parazitle yüksek kaliteli veriler elde etmelerini sağlar.

Sıcaklık kararlılığı ve kontrolü, kriyojenik elektriksel karakterizasyonda kritik öneme sahiptir ve bu prob istasyonu bu alanda mükemmeldir. Termal çapa tasarımı, prob tutucu ile numune tablası arasındaki sıcaklık farkının 10 K'nin altında kalmasını sağlar. Bu sıkı termal bağlantı, termal gradyanları en aza indirir ve ölçümler sırasında numune boyunca homojen sıcaklık koşullarının korunmasına yardımcı olur. Bu tür hassas termal yönetim, kriyojenik sıcaklıklarda güvenilir ve tekrarlanabilir I-V ve C-V verileri elde etmek için gereklidir.

4 K ile 420 K arasındaki numune sıcaklık aralığı, çoğu kriyojenik ve oda sıcaklığına yakın uygulamayı kapsar. Bu geniş aralık, araştırmacılara derin kriyojenik ortamlardan yüksek sıcaklıklara kadar çeşitli termal koşullar altında malzeme ve cihazları inceleme esnekliği sağlar. Bu kapsamlı sıcaklık penceresi üzerinde elektriksel karakterizasyon yapabilme yeteneği, sıcaklığa bağlı elektriksel özellikleri ve cihaz davranışını anlamak için paha biçilmezdir.

Kriyojenik Prob İstasyonu, bir numune üzerinde eş zamanlı çok noktalı ölçümler yapılmasına olanak tanıyan dört prob koluyla birlikte standart olarak gelir. Daha fazla prob noktası gerektiren daha karmaşık deneyler için sistem, sekiz prob koluna kadar destekler. Bu ölçeklenebilirlik, çok terminalli ölçümler ve karmaşık devre testleri dahil olmak üzere gelişmiş cihaz karakterizasyonu için istasyonun faydasını artırır. Prob kollarının hassasiyeti ve kararlılığı, numune ile doğru teması sağlar, ölçüm hatalarını azaltır ve veri kalitesini artırır.

Yüksek frekanslı elektriksel ölçümler, istasyonun mikrodalga prob yetenekleri tarafından desteklenir. K tipi konektörler kullanarak 0 ila 40 GHz arasında ve 1,85 mm konektörler kullanarak 0 ila 67 GHz arasında çalışan mikrodalga problarını barındırabilir. Bu geniş frekans aralığı, kriyojenik koşullar altında yüksek hızlı ve mikrodalga cihazlarının kapsamlı elektriksel karakterizasyonunu sağlar. Mikrodalga prob seçeneklerinin entegrasyonu, sistemi RF ve mikrodalga elektroniğinde son teknoloji araştırmalara hitap eden son derece çok yönlü hale getirir.

Ek olarak, Kriyojenik Prob İstasyonu, 1 V'ta 100 fA'nın altında sızıntı akımı performansı ile bilinir. Bu ultra düşük sızıntı özelliği, özellikle gürültü ve sızıntı akımlarının veri doğruluğunu ciddi şekilde etkileyebileceği kriyojenik ortamlarda hassas elektriksel ölçümler için çok önemlidir. İstasyonun tasarımı, sızıntı ve gürültüyü en aza indirmeyi vurgular ve son derece düşük akım seviyelerine sahip cihazlar için bile güvenilir I-V ve C-V karakterizasyonu sağlar.

Özetle, Kriyojenik Prob İstasyonu, kapsamlı kriyojenik elektriksel karakterizasyon (I-V/C-V) deneylerini desteklemek için esnekliği, hassasiyeti ve gelişmiş özellikleri birleştiren son teknoloji bir araçtır. Çoklu numune tutucu seçenekleri, prob tutucu ve numune tablası arasında 10 K'den daha az sıcaklık farkı sağlayan bir termal çapa ile mükemmel termal yönetimi ve 4 K ile 420 K arasında geniş çalışma sıcaklık aralığı, onu çeşitli araştırma uygulamaları için ideal hale getirir. Sekize kadar genişletilebilen standart dört prob kolu, 67 GHz'e kadar yüksek frekanslı mikrodalga prob yetenekleriyle birlikte benzersiz bir çok yönlülük sağlar. Ayrıca, düşük sızıntı akımı performansı, son teknoloji kriyojenik araştırmalar için gerekli olan yüksek doğrulukta ölçümler sağlar. Bu prob istasyonu, kriyojenik sıcaklıklarda güvenilir ve hassas elektriksel karakterizasyon arayan bilim insanları ve mühendisler için vazgeçilmez bir araç olarak öne çıkıyor.

Özellikler:

• Ürün Adı: Kriyojenik Prob İstasyonu
• Prob Kolu Vuruşu: X-Y-Z, 50 mm - 25 mm - 25 mm
• Elektriksel Sızıntı Akımı: Doğru ölçümler sağlayan 1 V'ta 100 fA'dan az
• Optik Mikroskop: Hassas numune gözlemi için 0,75* ila 3,75* sürekli yakınlaştırma
• Sıcaklık Kararlılığı: Güvenilir kriyojenik test için 4 K ile 420 K aralığında ± <1,20 mKTitreşim: Ölçüm gürültüsünü en aza indiren, numune tablası titreşimi 1 μm tepe-tepe'den az
• Kriyojenik elektriksel karakterizasyon (I-V/C-V) prob istasyonu uygulamalarını destekler
• Model: Gelişmiş düşük sıcaklık testi için tasarlanmış PS-Cryo 4 K kriyojenik prob istasyonu
• Yüksek hassasiyetli elektriksel ölçümler için düşük sızıntı akımı (
• fA@1<100 VTeknik Parametreler: