Hoogvacuüm 4 K Probe: 0-67 GHz, 4-8 Arms & Kosteneffectieve Elektrische Karakterisering

Productbeschrijving:

De Cryogene Probe Station is een geavanceerd en veelzijdig instrument dat is ontworpen voor precieze cryogene elektrische karakterisatie (I-V/C-V) metingen. Het is ontwikkeld om te voldoen aan de veeleisende eisen van onderzoekers en ingenieurs die werken met halfgeleiderapparaten bij lage temperaturen, quantummaterialen en andere cryogene toepassingen. Deze probe station biedt uitzonderlijke prestaties en combineert flexibiliteit, nauwkeurigheid en betrouwbaarheid om uitgebreide elektrische tests bij temperaturen variërend van 4 K tot 420 K te faciliteren.

Een van de belangrijkste kenmerken van deze cryogene probe station zijn de opties voor monsterhouders, waaronder Ground, Coaxiaal en Triaxiaal configuraties. Met deze opties kunnen gebruikers de opstelling aanpassen aan hun specifieke meetbehoeften, waardoor een optimale signaalintegriteit en ruisonderdrukking worden gewaarborgd. De beschikbaarheid van verschillende soorten monsterhouders maakt het geschikt voor een breed scala aan apparaten en experimentele opstellingen, waardoor onderzoekers gegevens van hoge kwaliteit kunnen verkrijgen met minimale interferentie.

Temperatuurstabiliteit en -regeling zijn cruciaal bij cryogene elektrische karakterisatie, en deze probe station blinkt uit op dit gebied. Het thermische ankerontwerp zorgt ervoor dat het temperatuurverschil tussen de probehouder en de monsterfase onder de 10 K blijft. Deze strakke thermische koppeling minimaliseert thermische gradiënten en helpt uniforme temperatuuromstandigheden over het monster te handhaven tijdens metingen. Een dergelijk nauwkeurig thermisch beheer is essentieel voor het verkrijgen van betrouwbare en reproduceerbare I-V- en C-V-gegevens bij cryogene temperaturen.

Het temperatuurbereik van het monster van 4 K tot 420 K bestrijkt de meeste cryogene en bijna-kamertemperatuurtoepassingen. Dit brede bereik biedt onderzoekers de flexibiliteit om materialen en apparaten te bestuderen onder verschillende thermische omstandigheden, van diepe cryogene omgevingen tot verhoogde temperaturen. De mogelijkheid om elektrische karakterisatie uit te voeren over dit uitgebreide temperatuurvenster is van onschatbare waarde voor het begrijpen van temperatuurafhankelijke elektrische eigenschappen en het gedrag van apparaten.

De Cryogene Probe Station wordt standaard geleverd met vier probe-armen, waardoor gelijktijdige multi-point metingen op een enkel monster mogelijk zijn. Voor complexere experimenten die extra probeerpunten vereisen, ondersteunt het systeem tot acht probe-armen. Deze schaalbaarheid verbetert de bruikbaarheid van de station voor geavanceerde apparaatkarakterisatie, inclusief multi-terminal metingen en complexe circuit tests. De precisie en stabiliteit van de probe-armen zorgen voor nauwkeurig contact met het monster, waardoor meetfouten worden verminderd en de gegevenskwaliteit wordt verbeterd.

Hoogfrequente elektrische metingen worden ondersteund door de microwave probeer mogelijkheden van de station. Het kan microwave probes accommoderen die werken van 0 tot 40 GHz met behulp van K-type connectoren, en van 0 tot 67 GHz met 1,85 mm connectoren. Dit brede frequentiebereik maakt uitgebreide elektrische karakterisatie van high-speed en microwave apparaten onder cryogene omstandigheden mogelijk. De integratie van microwave probe opties maakt het systeem zeer veelzijdig en geschikt voor geavanceerd onderzoek in RF- en microwave elektronica.

Daarnaast staat de Cryogene Probe Station bekend om zijn lage lekstroomprestaties, met lekstromen onder de 100 fA @ 1 V. Deze ultra-lage lekstroomkarakteristiek is cruciaal voor gevoelige elektrische metingen, met name in cryogene omgevingen waar ruis en lekstromen de gegevensnauwkeurigheid ernstig kunnen beïnvloeden. Het ontwerp van de station benadrukt het minimaliseren van lekstroom en ruis, waardoor betrouwbare I-V- en C-V-karakterisatie mogelijk is, zelfs voor apparaten met extreem lage stroomniveaus.

Kortom, de Cryogene Probe Station is een state-of-the-art tool die flexibiliteit, precisie en geavanceerde functies combineert om uitgebreide cryogene elektrische karakterisatie (I-V/C-V) experimenten te ondersteunen. De meerdere opties voor monsterhouders, uitstekend thermisch beheer met een thermisch anker dat een temperatuurverschil van minder dan 10 K tussen de probehouder en de monsterfase handhaaft, en een breed operationeel temperatuurbereik van 4 K tot 420 K maken het ideaal voor diverse onderzoekstoepassingen. De standaard vier probe-armen, uitbreidbaar tot acht, samen met hoogfrequente microwave probeer mogelijkheden tot 67 GHz, bieden ongeëvenaarde veelzijdigheid. Bovendien zorgt de lage lekstroomprestatie voor metingen met hoge getrouwheid, essentieel voor geavanceerd cryogeen onderzoek. Deze probe station onderscheidt zich als een onmisbaar instrument voor wetenschappers en ingenieurs die op zoek zijn naar betrouwbare en precieze elektrische karakterisatie bij cryogene temperaturen.

Kenmerken:

• Productnaam: Cryogene Probe Station
• Probe Arm Slag: X-Y-Z, 50 mm - 25 mm - 25 mm
• Elektrische Lekstroom: Minder dan 100 fA @ 1 V, wat nauwkeurige metingen garandeert
• Optische Microscoop: 0,75* tot 3,75* continue zoom voor precieze monsterobservatie
• Temperatuurstabiliteit: ±<1,20 mK in het bereik van 4 K tot 420 K voor betrouwbare cryogene tests
• Trilling: Monsterfase trilling minder dan 1 μm piek-tot-piek, waardoor meetruis wordt geminimaliseerd
• Ondersteunt cryogene elektrische karakterisatie (I-V/C-V) probe station toepassingen
• Model: PS-Cryo 4 K cryogene probe station ontworpen voor geavanceerde tests bij lage temperaturen
• Lage lekstroom (<100 fA@1 V) cryogene probe station voor zeer precieze elektrische metingen