logo

Hệ thống Kính hiển vi Kerr chính xác Cryo MOKE để chụp ảnh từ hóa của vật liệu Spintronic

Cryo MOKE System For Magnetization Imaging Of Spintronic Materials Product Description: The Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System is a cutting-edge instrument designed for researchers and scientists working with low temperature Kerr microscopy applications. This advanced system offers exceptional temperature stability with a range of ±50 mK, ensuring precise and reliable measurements even in demanding experimental conditions. Featuring a high Kerr angle
Chi tiết sản phẩm
Làm nổi bật:

Kính hiển vi Kerr chính xác

,

Hệ thống Cryo MOKE

,

Độ chính xác của Hệ thống MOKE

Name: Kính hiển vi Kerr
Electrical Source Meter: SR830, Keithley 6221, Keithley 2182 A
Objectives: 5 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×, không từ tính
Laser Spot: 5 μm
Magnetic Field Resolution: Quy định phản hồi vòng kín PID, độ phân giải 0,05 MT
Variable Temperature Range: 4.2 K - 420 K
Vertical Magnetic Field: Nam châm làm mát bằng nước, khoảng cách 1,6 T@Air 10,5 mm ở nhiệt độ phòng; 1 t@khoảng cách không kh
Kerr Angle Resolution: 0,5 mdeg (rms)
In-Plane Magnetic Field: Nam châm làm mát bằng nước, khoảng cách 1 T@Air 18 mm ở nhiệt độ phòng; 0,75 t@khoảng cách không khí

Các tính chất cơ bản

Tên thương hiệu: Truth Instruments
Số mẫu: KMPL-L

Giao dịch Bất động sản

Giá bán: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Điều khoản thanh toán: T/t
Mô tả sản phẩm

Hệ thống Cryo MOKE để Chụp ảnh từ hóa của Vật liệu Spintronic

Mô tả sản phẩm:

Hệ thống Chụp ảnh vi mô Laser Kerr từ trường cao đông lạnh là một công cụ tiên tiến được thiết kế cho các nhà nghiên cứu và nhà khoa học làm việc với các ứng dụng kính hiển vi Kerr nhiệt độ thấp. Hệ thống tiên tiến này cung cấp độ ổn định nhiệt độ đặc biệt với phạm vi ±50 mK, đảm bảo các phép đo chính xác và đáng tin cậy ngay cả trong các điều kiện thí nghiệm khắc nghiệt.

Với độ phân giải góc Kerr cao 0,5 mdeg (RMS), hệ thống cho phép các nhà nghiên cứu phân tích chính xác các vật liệu từ yếu và thực hiện các phép đo từ hóa chi tiết với độ chính xác vô song. Các vật kính đi kèm cung cấp sự linh hoạt và đa năng, với các tùy chọn độ phóng đại 5*, 20*, 50* và 100*, cũng như một vật kính không từ tính cho các ứng dụng chuyên biệt.

Một trong những điểm nổi bật chính của hệ thống này là khả năng phân giải từ trường của nó, đạt được thông qua điều chỉnh phản hồi vòng kín PID với độ phân giải 0,05 mT. Việc kiểm soát chính xác các từ trường này cho phép các nhà nghiên cứu nghiên cứu các tính chất từ của vật liệu với khả năng kiểm soát và độ chính xác đặc biệt, mở ra những khả năng mới cho nghiên cứu đột phá trong lĩnh vực từ tính.

Hơn nữa, Hệ thống Chụp ảnh vi mô Laser Kerr từ trường cao đông lạnh cung cấp dải nhiệt độ thay đổi từ 4,2 K đến 420 K, đáp ứng nhiều yêu cầu thí nghiệm và cho phép các nhà nghiên cứu nghiên cứu hành vi của vật liệu trên các chế độ nhiệt độ khác nhau. Tính linh hoạt về nhiệt độ này là điều cần thiết để điều tra các đặc tính nhiệt của vật liệu và hiểu cách chúng phản ứng với sự thay đổi nhiệt độ.

Tóm lại, Hệ thống Chụp ảnh vi mô Laser Kerr từ trường cao đông lạnh là một công cụ tinh vi vượt trội trong việc phân tích các ứng dụng kính hiển vi Kerr nhiệt độ thấp. Với độ ổn định nhiệt độ đặc biệt, độ phân giải góc Kerr cao, vật kính đa năng, điều chỉnh từ trường chính xác và dải nhiệt độ thay đổi, hệ thống này là một công cụ có giá trị cho các nhà nghiên cứu muốn khám phá các tính chất từ của vật liệu và tiến hành các phép đo từ hóa chi tiết trong môi trường phòng thí nghiệm có kiểm soát.

 

Tính năng:

  • Tên sản phẩm: Hệ thống Chụp ảnh vi mô Laser Kerr từ trường cao đông lạnh
  • Đồng hồ đo nguồn điện:
    • SR830
    • Keithley 6221
    • Keithley 2182 A
  • Độ phân giải góc Kerr: 0,5 Mdeg (RMS)
  • Độ phân giải quang học: 450 Nm
  • Từ trường trong mặt phẳng:
    • Nam châm làm mát bằng nước
    • 1 T @ khe hở không khí 18 mm ở nhiệt độ phòng
    • 0,75 T @ khe hở không khí 28 mm ở nhiệt độ thấp
  • Dải nhiệt độ thay đổi: 4,2 K - 420 K
 

Thông số kỹ thuật:

Vật kính 5*, 20*, 50*, 100*, Không từ tính
Đồng hồ đo nguồn điện SR830, Keithley 6221, Keithley 2182 A
Điểm laser 5 μm
Từ trường dọc Nam châm làm mát bằng nước, 1,6 T@khe hở không khí 10,5 Mm ở nhiệt độ phòng; 1 T@khe hở không khí 24 Mm ở nhiệt độ thấp
Độ phân giải từ trường Điều chỉnh phản hồi vòng kín PID, Độ phân giải 0,05 MT
Từ trường trong mặt phẳng Nam châm làm mát bằng nước, 1 T@khe hở không khí 18 Mm ở nhiệt độ phòng; 0,75 T@khe hở không khí 28 Mm ở nhiệt độ thấp
Độ phân giải quang học 450 Nm
Độ ổn định nhiệt độ ±50 MK
Dải nhiệt độ thay đổi 4,2 K - 420 K
Độ phân giải góc Kerr 0,5 Mdeg (RMS)
 

Ứng dụng:

Các dịp và tình huống ứng dụng sản phẩm cho Hệ thống Chụp ảnh vi mô Laser Kerr từ trường cao đông lạnh Truth Instruments (Model: KMPL-L) :

Tên thương hiệu: Truth Instruments

Số hiệu mẫu: KMPL-L

Nơi sản xuất: TRUNG QUỐC

Từ trường trong mặt phẳng: Nam châm làm mát bằng nước, 1 T@khe hở không khí 18 Mm ở nhiệt độ phòng; 0,75 T@khe hở không khí 28 Mm ở nhiệt độ thấp

Vật kính: 5*, 20*, 50*, 100*, Không từ tính

Độ phân giải góc Kerr: 0,5 Mdeg (RMS)

Độ ổn định nhiệt độ: ±50 MK

Độ phân giải quang học: 450 Nm

Tình huống ứng dụng sản phẩm:

- Đo từ hóa trong các vật liệu khác nhau

- Nghiên cứu đặc tính từ ở nhiệt độ thấp

- Chụp ảnh độ phân giải cao trong môi trường nhiệt độ thấp

- Phân tích chụp ảnh vi mô Kerr ở nhiệt độ đông lạnh

- Nghiên cứu và phát triển các vật liệu có các tính chất từ cụ thể

Hệ thống Chụp ảnh vi mô Laser Kerr từ trường cao đông lạnh này của Truth Instruments (Model: KMPL-L) được thiết kế để đo từ hóa chính xác và đặc tính từ ở nhiệt độ thấp. Với khả năng từ trường trong mặt phẳng và độ phân giải góc Kerr cao 0,5 Mdeg (RMS), hệ thống này lý tưởng để nghiên cứu vật liệu ở các cường độ và nhiệt độ từ trường khác nhau.

Các nhà nghiên cứu và nhà khoa học có thể sử dụng hệ thống này để phân tích chuyên sâu các vật liệu trong môi trường nhiệt độ thấp, khám phá các tính chất từ với các vật kính không từ tính và đạt được độ phân giải quang học 450 Nm. Độ ổn định nhiệt độ ±50 MK đảm bảo kết quả đáng tin cậy và chính xác trong các tình huống nghiên cứu khác nhau.

Gửi Yêu Cầu

Nhận một trích dẫn nhanh