Прецизионный Керровский микроскоп для крио-MOKE системы для визуализации намагниченности спинтронных материалов

Описание продукта:

Криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем - это передовой прибор, разработанный для исследователей и ученых, работающих с низкотемпературными приложениями микроскопии Керра. Эта усовершенствованная система обеспечивает исключительную температурную стабильность в диапазоне ±50 мК, обеспечивая точные и надежные измерения даже в сложных экспериментальных условиях.

Обладая высоким разрешением по углу Керра 0,5 мград (RMS), система позволяет исследователям точно анализировать слабые магнитные материалы и выполнять детальные измерения намагниченности с беспрецедентной точностью. Входящие в комплект объективы обеспечивают гибкость и универсальность, с вариантами увеличения 5*, 20*, 50* и 100*, а также немагнитный объектив для специализированных применений.

Одной из ключевых особенностей этой системы является ее способность разрешения магнитного поля, которая достигается за счет регулирования с обратной связью по ПИД-регулятору с разрешением 0,05 мТл. Этот точный контроль над магнитными полями позволяет исследователям изучать магнитные свойства материалов с исключительным контролем и точностью, открывая новые возможности для новаторских исследований в области магнетизма.

Кроме того, криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем предлагает переменный диапазон температур от 4,2 К до 420 К, удовлетворяя широкий спектр экспериментальных требований и позволяя исследователям изучать поведение материалов в различных температурных режимах. Эта температурная универсальность необходима для исследования тепловых свойств материалов и понимания того, как они реагируют на изменения температуры.

В заключение, криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем - это сложный прибор, который превосходно подходит для анализа низкотемпературных приложений микроскопии Керра. Благодаря исключительной температурной стабильности, высокому разрешению по углу Керра, универсальным объективам, точной регулировке магнитного поля и переменному диапазону температур, эта система является ценным инструментом для исследователей, стремящихся изучить магнитные свойства материалов и проводить детальные измерения намагниченности в контролируемых лабораторных условиях.

Особенности:

• Название продукта: Криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем
• Измеритель электрического источника:
  • SR830
  • Keithley 6221
  • Keithley 2182 A
• Разрешение по углу Керра: 0,5 мград (RMS)
• Оптическое разрешение: 450 нм
• Магнитное поле в плоскости:
  • Магнит с водяным охлаждением
  • 1 Тл при воздушном зазоре 18 мм при комнатной температуре
  • 0,75 Тл при воздушном зазоре 28 мм при низкой температуре
• Переменный диапазон температур: 4,2 К - 420 К

Технические параметры:

Применения:

Случаи и сценарии применения продукта для Truth Instruments Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System (Модель: KMPL-L) :

Бренд: Truth Instruments

Номер модели: KMPL-L

Место происхождения: КИТАЙ

Магнитное поле в плоскости: Магнит с водяным охлаждением, 1 Тл при воздушном зазоре 18 мм при комнатной температуре; 0,75 Тл при воздушном зазоре 28 мм при низкой температуре

Объективы: 5*, 20*, 50*, 100*, Немагнитный

Разрешение по углу Керра: 0,5 мград (RMS)

Температурная стабильность: ±50 мК

Оптическое разрешение: 450 нм

Сценарии применения продукта:

- Измерение намагниченности в различных материалах

- Исследования низкотемпературной магнитной характеристики

- Высокоразрешающая визуализация в низкотемпературных условиях

- Анализ микроизображений Керра при криогенных температурах

- Исследования и разработка материалов со специфическими магнитными свойствами

Эта криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем от Truth Instruments (Модель: KMPL-L) предназначена для точного измерения намагниченности и низкотемпературной магнитной характеристики. Благодаря своим возможностям магнитного поля в плоскости и высокому разрешению по углу Керра 0,5 мград (RMS), эта система идеально подходит для изучения материалов при различных напряженностях магнитного поля и температурах.

Исследователи и ученые могут использовать эту систему для углубленного анализа материалов в низкотемпературных условиях, изучения магнитных свойств с помощью немагнитных объективов и достижения оптического разрешения 450 нм. Температурная стабильность ±50 мК обеспечивает надежные и точные результаты в различных исследовательских сценариях.