Trạm dò từ trường vector cho phép đo trên wafer để đặc tính hóa thiết bị 2D
Trạm dò từ trường vector
,Trạm dò từ trường có thể mở rộng
,Trạm dò wafer có thể mở rộng
Các tính chất cơ bản
Giao dịch Bất động sản
Trạm Đo Thăm Dò Từ Tính Vector Cho Đặc Tính Thiết Bị 2D
Mô tả sản phẩm:
Trạm Đo Thăm Dò Từ Tính 2D In Plane-Vertical là một công cụ tiên tiến được thiết kế để đo chính xác các trường từ, đặc biệt tập trung vào thành phần theo chiều dọc. Với các tính năng và khả năng vượt trội, sản phẩm này là một tài sản không thể thiếu cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư làm việc trong nhiều lĩnh vực khác nhau như spintronics, vật liệu từ tính, và hơn thế nữa.
Một trong những điểm nổi bật chính của trạm thăm dò này là Thành phần Trường Từ In-Plane vượt trội của nó, với Thành phần Theo Chiều Dọc tốt hơn 0.1 mT. Điều này đảm bảo các phép đo chính xác và đáng tin cậy, cho phép người dùng có được những hiểu biết chi tiết về các đặc tính từ tính của mẫu của họ.
Được trang bị Điều chỉnh Phản hồi Vòng Kín PID, Độ phân giải Trường Từ của trạm thăm dò này là 0.05 mT ấn tượng. Mức độ chính xác này cho phép người dùng nắm bắt những thay đổi nhỏ trong trường từ với độ nhạy cao, tạo điều kiện thuận lợi cho việc phân tích và nghiên cứu chuyên sâu.
Cường độ Trường Từ Theo Chiều Dọc do trạm thăm dò này cung cấp được đánh giá là 140 mT, cung cấp nhiều khả năng đo lường để đáp ứng các yêu cầu thử nghiệm đa dạng. Cho dù điều tra vật liệu từ tính hay tiến hành các thử nghiệm chuyên biệt, trạm này mang lại kết quả nhất quán và chính xác.
Để tăng cường quan sát và phân tích, trạm thăm dò có Độ phóng đại quang học từ 0.75× đến 5×. Khả năng phóng đại có thể điều chỉnh này cho phép người dùng thu phóng vào các khu vực quan tâm cụ thể, cung cấp chế độ xem chi tiết về trường từ đang được điều tra.
Một ưu điểm quan trọng khác của trạm thăm dò này là Tính đồng nhất của Trường Từ, tốt hơn ±1%φ1 mm. Mức độ đồng nhất cao này đảm bảo các phép đo đáng tin cậy và có thể tái tạo, rất cần thiết để đạt được kết quả chính xác và nhất quán trong các thí nghiệm trường từ khác nhau.
Được thiết kế như một hệ thống có thể mở rộng, trạm thăm dò này mang lại sự linh hoạt và khả năng mở rộng để đáp ứng nhu cầu nghiên cứu đang phát triển. Người dùng có thể dễ dàng nâng cấp và tùy chỉnh trạm với các thành phần và tính năng bổ sung, cho phép họ thích ứng với các yêu cầu và kỹ thuật thử nghiệm mới.
Cho dù thực hiện các thử nghiệm spintronics, đo lật điện hoặc các nghiên cứu trường từ khác, trạm thăm dò này cung cấp một nền tảng linh hoạt để tiến hành các thí nghiệm chính xác và đáng tin cậy. Khả năng tiên tiến của nó, kết hợp với các tính năng thân thiện với người dùng, làm cho nó trở thành một công cụ vô giá cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư đang tìm cách vượt qua ranh giới của việc đo lường và phân tích trường từ.
Tính năng:
- Tên sản phẩm: Trạm Đo Thăm Dò Từ Tính 2D In Plane-Vertical
- Cường độ Trường Từ In-Plane: 800 mT@khoảng trống không khí 12 mm
- Cường độ Trường Từ Theo Chiều Dọc: 140 mT
- Độ phân giải Trường Từ: Điều chỉnh Phản hồi Vòng Kín PID, Độ phân giải 0.05 mT
- Thành phần Trường Từ In-Plane: Thành phần Theo Chiều Dọc Tốt Hơn 0.1 mT
- Khoảng trống không khí: Có thể điều chỉnh từ 0-40 mm
Thông số kỹ thuật:
| Độ phân giải Trường Từ | Điều chỉnh Phản hồi Vòng Kín PID, Độ phân giải 0.05 mT |
| Cường độ Trường Từ In-Plane | 800 mT@khoảng trống không khí 12 mm |
| Cường độ Trường Từ Theo Chiều Dọc | 140 mT |
| Độ phóng đại quang học | 0.75×-5× |
| Khoảng trống không khí | Có thể điều chỉnh từ 0-40 mm |
| Thành phần Trường Từ In-Plane | Thành phần Theo Chiều Dọc Tốt Hơn 0.1 mT |
| Tính đồng nhất của Trường Từ | Tốt hơn ±1%φ1 mm |
Ứng dụng:
Truth Instruments giới thiệu Trạm Đo Thăm Dò Từ Tính 2D In Plane-Vertical PS2DY-MS, một công cụ tiên tiến được thiết kế để phục vụ cho nhiều dịp và tình huống ứng dụng sản phẩm. Được sản xuất tại TRUNG QUỐC, thiết bị tiên tiến này tự hào có các tính năng đặc biệt để đáp ứng nhu cầu của các ngành công nghiệp đa dạng.
Với Cường độ Trường Từ Theo Chiều Dọc là 140 mT, PS2DY-MS lý tưởng cho các ứng dụng yêu cầu đo trường từ chính xác. Phạm vi Độ phóng đại quang học từ 0.75× đến 5× đảm bảo kiểm tra chi tiết các mẫu, làm cho nó phù hợp với các tác vụ đòi hỏi mức độ chính xác cao.
Độ phân giải Trường Từ của PS2DY-MS được tăng cường bởi Điều chỉnh Phản hồi Vòng Kín PID, cung cấp độ phân giải 0.05 mT. Tính năng này làm cho nó hoàn hảo cho các tác vụ mà việc điều chỉnh tinh tế trường từ là rất quan trọng.
Hơn nữa, Tính đồng nhất của Trường Từ của thiết bị tốt hơn ±1%φ1 mm, đảm bảo kết quả nhất quán và đáng tin cậy trong các thí nghiệm khác nhau. Thành phần Trường Từ In-Plane, với Thành phần Theo Chiều Dọc tốt hơn 0.1 mT, tiếp tục nâng cao độ chính xác của các phép đo, làm cho nó trở thành một công cụ không thể thiếu cho nghiên cứu và phát triển.
PS2DY-MS phù hợp với các ứng dụng Trạm Đo Thăm Dò Từ Tính Vector, nơi cần phân tích chi tiết các trường vector 2D. Khả năng của nó làm cho nó trở thành một tài sản quý giá cho các ngành công nghiệp liên quan đến Kiểm tra Wafer, nơi độ chính xác và hiệu quả là tối quan trọng.