পাওয়া গেছে
59
জন্য পণ্য "high resolution microscope
"-
0. 1 হার্জ - 30 হার্জ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ 0.04 এনএম মাল্টিপল মোড সহ উচ্চ নির্ভুলতা মাইক্রোস্কোপ
Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 nm, this microscope offers ... -
ন্যানোস্কেল সম্ভাব্য পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ নিয়মিত শিল্প মাইক্রোস্কোপ উচ্চ রেজোলিউশন
Nanoscale Potential With Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: One of the key features of the AFM is its impressive scanning range, measuring at 100 μm X 100 μm X 10 μm. This wide range allows for detailed imaging and analysis of a variety of samples, from small ... -
অ্যাটম এজ প্রোঃ মাল্টি-ফাংশনাল অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and characterization at the nanometer scale. This multifunctional measurement tool integrates several advanced microscopy techniques, including Electrostatic Force ... -
স্থায়ী চুম্বক গবেষণার জন্য শক্তিশালী চৌম্বক ক্ষেত্র এবং উচ্চ-টেম্পার টেস্টিং
Product Description: The Kerr Microscope is a highly advanced instrument designed for precise magnetic field resolution testing and high temperature magnetic measurement. It offers exceptional capabilities that make it ideal for researchers and professionals working in the fields of magnetism, ... -
সমতল চৌম্বক ক্ষেত্র 2 টি এয়ার গ্যাপ 10 এমএম চৌম্বকীয় ডোমেন পর্যবেক্ষণ PID বৈশিষ্ট্যযুক্ত বন্ধ লুপ ফিডব্যাক নিয়ন্ত্রণ চৌম্বকীয় ক্ষেত্র রেজোলিউশন
Product Description: The Kerr Microscope is an advanced instrument designed for high resolution magnetic microscopy, offering unparalleled performance in the study and analysis of magnetic materials and phenomena. Equipped with a comprehensive set of objectives including 5*, 20*, 50*, 100*, a high... -
0.1 Hz - 30 Hz পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ ন্যানোস্কেল স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ
Advanced Scanning Probe Microscope for Nanoscale Measurements Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool that offers multi-mode measurement capabilities with nanometer resolution, making it an essential instrument for various research and industrial applications. ... -
মাল্টিফাংশনাল MOKE মাইক্রোস্কোপ ২৫০ nm ম্যাগনেটো অপটিক্যাল কের প্রভাব মাইক্রোস্কোপ SOT বিশ্লেষণের জন্য
Multifunctional MOKE Microscope For SOT Analysis Product Description: One of the key features of the Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is its Microsecond Ultrafast PulseVertical Magnetic Field, which provides a vertical magnetic field strength of 60 mT with a rise time of 0.5 ... -
ম্যাগনেটো অপটিক কের মাইক্রোস্কোপ 250 এনএম স্পিন টেস্ট মাইক্রোস্কোপ বিস্তৃত উপাদান বৈশিষ্ট্যের জন্য
SpinTest MagnetoOptic Kerr Microscope For Comprehensive Material Characterization Product Description: The Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is an essential tool for researchers and scientists working with magnetic thin films in the field of spintronics. This advanced MOKE ... -
শক্ত চৌম্বক পদার্থের 3D বিশ্লেষণের জন্য স্থায়ী চুম্বক কের মাইক্রোস্কোপ ভেক্টর MOKE মাইক্রোস্কোপ 450 nm
Vector MOKE Microscope For 3D Analysis Of Hard Magnetic Materials Product Description: The Permanent Magnet Kerr Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and detailed observation of magnetic materials. With a variable temperature range of 298 K to 798 K, this microscope ...