Geavanceerde AFM met meerdere modi voor nanoschaalkarakterisering Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor een zeer nauwkeurige oppervlaktanalyse en karakterisering op nanoschaal.deze microscoop biedt uitzonderlijke gevoeligheid en ...

Potentieel op nanoschaal met atoomKrachtmicroscoop voor beeldvorming met hoge resolutie Productbeschrijving: Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM is het indrukwekkende scanningbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm.van kleine nanodeeltjes naar grotere structuren. Met een scansnelheid van 0,1 Hz ...

Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument ontworpen voor zeer precieze oppervlakteanalyse en -karakterisering op de nanometerschaal. Deze multifunctionele meettool integreert verschillende geavanceerde microscopietechnieken, waaronder Elektrostatische Kracht ...

Productbeschrijving:De Kerr-microscoop is een zeer geavanceerd instrument dat is ontworpen voor nauwkeurige magnetische veldresolutie testen en hoge temperatuur magnetische metingen.Het biedt uitzonderlijke mogelijkheden die het ideaal maken voor onderzoekers en professionals die op het gebied van ...

Multifunctionele MOKE Microscoop voor SOT-analyse Productbeschrijving: Een van de belangrijkste kenmerken van de Multifunctionele Spin-Test Magneto-Optische Kerr Microscoop is de Microsecond Ultrafast PulseVertical Magnetic Field, die een verticale magnetische veldsterkte van 60 mT biedt met een ...

SpinTest Magneto-optische Kerr-microscoop voor uitgebreide materiaalkenmerken Productbeschrijving: De Multifunctionele Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is een essentieel hulpmiddel voor onderzoekers en wetenschappers die werken met magnetische dunne films op het gebied van spintronics.Deze ...

Vector-MOKE-microscoop voor 3D-analyse van harde magnetische materialen Productbeschrijving: De Permanent Magnet Kerr Microscope is een geavanceerd instrument ontworpen voor beeldvorming met hoge resolutie en gedetailleerde waarneming van magnetische materialen.Deze microscoop stelt onderzoekers in ...

Productbeschrijving: De Kerr Microscoop is een geavanceerd instrument ontworpen voor magnetische microscopie met hoge resolutie, en biedt ongeëvenaarde prestaties bij de studie en analyse van magnetische materialen en fenomenen. Uitgerust met een uitgebreide set objectieven, waaronder 5*, 20*, 50*, ...

Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd wetenschappelijk instrument dat is ontworpen om beeldvorming met hoge resolutie en precieze oppervlaktekarakterisering op de nanoschaal te bieden. Deze geavanceerde microscoop is ontwikkeld om te voldoen aan de veeleisende ...