Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) is een state-of-the-art scanning force microscope die is ontworpen om ongeëvenaarde beeldvorming en meetmogelijkheden op nanoschaal te bieden.Met zijn geavanceerde XYZ drie-assige full-sample scansysteem, maakt deze AFM een nauwkeurig en volledig ...

Hoge gevoeligheid MOKE voor zwak magnetisme en 2D materiaalonderzoek Productbeschrijving: Met een variabele temperatuurbereik van 4,2 K tot 420 K hebben onderzoekers de flexibiliteit om een breed scala aan materialen te bestuderen onder verschillende thermische omstandigheden. Dit brede temperatuurb...

Inleiding van het product Dit geavanceerde precisie-testinstrument, dat is ontworpen voor diepgaand onderzoek naar permanente magneetmaterialen, maakt het mogelijk om met hoge resolutie nauwkeurige metingen en gedetailleerde waarnemingen vanlongitudinale, transversale en verticale magneto-optische ...

Multifunctioneel atoomkrachtmicroscoop Productmodel: AtomEdge Pro Productbeschrijving: De multifunctionele atoomkrachtmicroscoop AtomEdge Pro kan driedimensionale scans maken van materialen, elektronische apparaten, biologische monsters, enz.Het heeft meerdere werkwijzen zoals contactHet systeem is ...

Cryogene Hoge-Magnetische-Veld Laser Kerr Microbeeldvormingssysteem Product Introductie Ontwikkeld voor de zwakke magnetisme, kleine afmetingen, niet-geleidende aard, lage coercieve veldsterkte en lage Curie-temperatuur van tweedimensionale ferromagnetische materialen, beschikt dit krachtige ...

Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd platform voor karakterisering op nanoschaal, ontworpen om ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid te bieden bij oppervlakteanalyse. Met een samplegroottecapaciteit tot 25 mm is dit instrument ideaal voor het onderzoeken van ...

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer geavanceerd instrument dat is ontworpen voor multifunctionele metingen en biedt een ongeëvenaarde veelzijdigheid en precisie in nanoschaalbeeldvorming en -analyse.Deze geavanceerde AFM integreert een verscheidenheid aan meetmodi, met ...

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) is een state-of-the-art instrument dat is ontworpen om ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid te bieden bij het in kaart brengen van oppervlakte-eigenschappen op nanoschaal.Ontworpen om te voldoen aan de veeleisende eisen van geavanceerd ...

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer geavanceerd en veelzijdig instrument dat is ontworpen om een nauwkeurige oppervlaktekarakterisering te bieden door middel van meerdere werkwijzen.Deze multifunctionele microscoop integreert een reeks technieken, waaronder elektrostatis...