製品説明:原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,ナノスケールで比類のない画像と測定能力を提供するために設計された最先端のスキャン力顕微鏡です.XYZ3軸全サンプルスキャン方法でこのAFMは,サンプル表面の精密かつ包括的な検査を可能にし,ナノスケール研究および産業用アプリケーションで高い精度と繰り返し性を保証します.全サンプルスキャン能力により,顕微鏡はサンプル全域をスキャンできます詳細で完全な表面プロフィールを提供します. この原子力顕微鏡の特徴の一つは 直径25ミリメートルまでのサンプルとの互換性ですこの寛大なサンプルサイズ収容は,幅広い科学的調査と材...

弱い磁性および2D材料研究のための高感度MOKE 製品の説明: 4.2 Kから420 Kまでの可変温度範囲により、研究者はさまざまな熱条件下で幅広い材料を研究する柔軟性を持っています。この広い温度範囲は、低温での弱い磁性材料の特性を調査するのに理想的であり、その挙動と磁気応答に関する貴重な洞察を提供します。 このシステムの重要な特徴の1つは、その面内磁場能力です。水冷磁石を搭載したこのシステムは、室温で18 mmのエアギャップで1 Tの磁場を生成できます。低温では、磁場強度は28 mmのエアギャップで0.75 Tと印象的なままです。PID閉ループフィードバック制御によって実現された0.05 ...

製品紹介 この高度な精密試験器具は,永久磁石材料の深層研究のために設計され,高解像度で精密な測定と詳細な観測を可能にします.縦,横,垂直磁光ケール効果厳格な試験条件 (強い磁場,環境温度,高温) で,強い磁力による試験中にサンプル安定性を確保するため, it features an air-floating displacement stage and specially designed sample fixation devices — making it ideal for studying magnetization/demagnetization processes of ...

多機能原子力顕微鏡 製品モデル: AtomEdge Pro をインストールする 製品説明: 多機能の原子力顕微鏡"AtomEdge Pro"は,材料,電子機器,生物学的サンプルなどで3次元スキャン画像を処理できます.接触など,複数の作業モードがあります.さらに,磁力力顕微鏡などの複数の機能モードを統合しています.静電力顕微鏡また,機能モジュールは,ユーザのニーズに応じて柔軟にカスタマイズすることができます.特定の研究分野向けに ターゲット化されたソリューションを提供し,1台のマシンで複数の用途を 可能な効率的な検出プラットフォームを実現する. 装置の性能: サンプルサイズ 25mm スキャン方...

極低温強磁場レーザーKerrマイクロイメージングシステム 製品紹介 二次元強磁性材料の弱磁性、小型、非導電性、低保磁力、低キュリー温度特性のために開発されたこの強力な特性評価システムは、高磁気検出精度、高精度、微小領域スポット測定と位置決め、強磁場、および広い温度変動を特徴とし、二次元強磁性材料のほとんどの磁気特性評価ニーズに対応します。 装置性能 装置性能指標 説明 光学分解能 450 nm 対物レンズ 5*, 20*, 50*, 100*, 非磁性 Kerr角分解能 0.5 mdeg (RMS) レーザースポット 5 μm 面内磁場 水冷磁石、室温で1 T@エアギャップ18 mm; 低温...

製品の説明: 原子力顕微鏡（AFM）は、表面分析において比類のない精度と多様性を提供するように設計された、最先端のナノスケール特性評価プラットフォームです。最大25 mmのサンプルサイズ容量を備えたこの機器は、ナノスケールで幅広い材料と構造を調査するのに理想的であり、さまざまな科学分野の研究者やエンジニアにとって不可欠なツールとなっています。 このAFMの際立った特徴の1つは、その優れたイメージング能力であり、走査プローブ画像の最大解像度は4096*4096サンプリングポイントを誇ります。この超高解像度により、最も微細な表面の詳細でさえ正確にキャプチャして分析できるため、詳細な地形マッピングと...

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は 多機能測定用に設計された高度な高度な機器で,ナノスケール画像と分析において 類を見ない多用性と精度を提供します.この最先端のAFMは,様々な測定モードを統合電気静止力顕微鏡 (EFM),ケルビン探査力顕微鏡 (KPFM),ピエゾ電気力顕微鏡 (PFM),磁力力顕微鏡 (MFM),力曲線分析を含む.ナノテクノロジーと材料科学の最前線で働く研究者や技術者にとって不可欠なツールになります. このAFMの特徴の一つは 100μm*100μm*10μmの例外的なスキャン範囲です表面の地形や特性を高精度で広範囲にわたって調査できるこの広範なスキャン機能により,解像度...

製品説明: 原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノスケールでの表面特性マッピングにおいて、比類のない精度と多様性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な研究および産業用途の厳しい要件を満たすように設計されており、このAFMは、半導体、磁性材料、およびその他のさまざまな表面を扱う科学者やエンジニアにとって不可欠なツールとなる包括的な機能セットを提供します。 この原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、0.1～30 Hzの範囲の印象的な走査速度です。この幅広い走査速度スペクトルにより、ユーザーはサンプルと実験の特定のニーズに応じて、走査の速度と解像度を調整できます。詳細な高解像度表面分析が必要な...

製品説明:原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,複数の操作モードを通じて正確な表面特性を示すために設計された高度な高度な多用途機器です.この多機能顕微鏡は,静電力顕微鏡 (EFM) を含む様々な技術を統合しています磁気力顕微鏡 (MFM) を用いる.さらに,磁気力顕微鏡 (MFM) を用いる.誘導性原子力顕微鏡 (C-AFM) モードがオプションです電気性能測定の能力を拡張できるようにする.これらのモードの組み合わせにより,AFMは材料科学の研究者や技術者にとって不可欠なツールになりますナノテクノロジーと半導体産業 このAFMの特徴の一つは,横方向...