Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione all'avanguardia progettato per fornire capacità di imaging e misurazione senza pari a scala nanometrica. Con il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ avanzato, questo AFM ...

MOKE ad alta sensibilità per lo studio del magnetismo debole e dei materiali 2D Descrizione del prodotto: Con un intervallo di temperatura variabile che va da 4,2 K a 420 K, i ricercatori hanno la flessibilità di studiare un'ampia gamma di materiali in diverse condizioni termiche. Questo ampio ...

Introduzione del prodotto Progettato per la ricerca approfondita sui materiali a magnete permanente, questo strumento di prova avanzato di precisione consente misure precise ad alta risoluzione e osservazioni dettagliate dieffetti di Kerr magneto-ottici longitudinali, trasversali e verticaliin ...

Microscopio multifunzionale della forza atomica Modello di prodotto: AtomEdge Pro Descrizione del prodotto: Il microscopio di forza atomica multifunzionale AtomEdge Pro può effettuare scansioni tridimensionali su materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici, ecc.Dispone di modalità di ...

Sistema di microimaging Kerr laser a campo magnetico elevato criogenico Introduzione al prodotto Sviluppato per il debole magnetismo, le piccole dimensioni, la natura non conduttiva, il basso campo coercitivo e la bassa temperatura di Curie dei materiali ferromagnetici bidimensionali, questo potente ...

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è una piattaforma di caratterizzazione nanoscopica all'avanguardia progettata per fornire precisione e versatilità senza pari nell'analisi delle superfici. Con una capacità di dimensioni del campione fino a 25 mm, questo strumento è ...

Descrizione del prodotto:Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato progettato per la misurazione multifunzionale, offrendo una versatilità e precisione senza pari nell'imaging e nell'analisi su scala nanometrica.Questo AFM all'avanguardia integra una varietà di ...

Descrizione del prodotto:Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per fornire una precisione e una versatilità senza pari nella mappatura delle proprietà superficiali a nanoscala.Progettato per soddisfare i requisiti più esigenti della ricerca avanzata e ...

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato e versatile progettato per fornire una precisa caratterizzazione della superficie attraverso molteplici modalità operative. Questo microscopio multifunzionale integra una serie di tecniche tra cui la ...