Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah mikroskop kekuatan pemindaian mutakhir yang dirancang untuk memberikan kemampuan pencitraan dan pengukuran yang tak tertandingi pada skala nano.Dengan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang canggih, AFM ini memungkinkan pemeriksaan ...

MOKE Sensitivitas Tinggi Untuk Magnetisme Lemah Dan Studi Bahan 2D Deskripsi produk: Dengan rentang suhu yang bervariasi dari 4,2 K hingga 420 K, para peneliti memiliki fleksibilitas untuk mempelajari berbagai bahan dalam kondisi termal yang berbeda.Kisaran suhu yang luas ini sangat ideal untuk ...

Pengenalan Produk Dirancang untuk penelitian mendalam tentang bahan magnet permanen, instrumen pengujian presisi canggih ini memungkinkan pengukuran presisi resolusi tinggi dan pengamatan mendetailefek Kerr magneto-optik memanjang, melintang, dan vertikaldalam kondisi pengujian yang ketat (medan ...

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi Model produk: AtomEdge Pro Deskripsi produk: Mikroskop kekuatan atom multi-fungsi AtomEdge Pro dapat melakukan pencitraan pemindaian tiga dimensi pada bahan, perangkat elektronik, sampel biologis, dll.Ini memiliki beberapa mode kerja seperti kontak, tap, dan non...

Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System Pengantar Produk Dikembangkan untuk magnetisme lemah, ukuran kecil, sifat tidak konduktif, medan paksaan rendah, dan suhu Curie rendah dari bahan ferromagnetik dua dimensi,Sistem karakterisasi yang kuat ini memiliki deteksi magnetik yang ...

Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah platform karakterisasi skala nano mutakhir yang dirancang untuk memberikan presisi dan keserbagunaan yang tak tertandingi dalam analisis permukaan. Dengan kapasitas ukuran sampel hingga 25 mm, instrumen ini sangat ideal untuk menyelidiki berbagai ...

Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen yang sangat canggih yang dirancang untuk pengukuran multifungsi, menawarkan fleksibilitas dan presisi yang tak tertandingi dalam pencitraan dan analisis skala nano.AFM canggih ini mengintegrasikan berbagai mode pengukuran, termasuk ...

Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk memberikan presisi dan fleksibilitas yang tak tertandingi dalam pemetaan properti permukaan pada skala nanometer.Dirancang untuk memenuhi persyaratan yang menuntut penelitian lanjutan dan aplikasi industri, ...

Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen yang sangat canggih dan serbaguna yang dirancang untuk memberikan karakterisasi permukaan yang presisi melalui berbagai mode operasi. Mikroskop multifungsi ini mengintegrasikan berbagai teknik termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), ...