Mikroskop Gaya Atom Lanjutan Untuk Pencitraan Resolusi Tinggi Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom adalah alat canggih yang dirancang untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis skala nano. Dengan rentang pemindaian 100 μm X 100 μm X 10 μm, AFM ini menawarkan kemampuan pencitraan resolusi atom ...

Mikroskop Kerr Lanjutan Untuk Mikromagnetik Dan Pencitraan Domain Deskripsi Produk: Mikroskop Kerr Magnet Permanen adalah alat canggih yang dirancang untuk penelitian mikromagnetik tingkat lanjut, menawarkan kemampuan pencitraan resolusi tinggi untuk studi mendalam. Mikroskop inovatif ini dilengkapi ...

Mikroskop Kerr untuk Karakterisasi Magnet Permanen Resolusi Tinggi Deskripsi Produk: Mikroskop Kerr Magnet Permanen adalah alat canggih yang dirancang untuk aplikasi mikroskopi magneto-optik tingkat lanjut, menawarkan resolusi optik luar biasa sebesar 450 nm. Mikroskop ini dilengkapi dengan ...

Mikroskop Gaya Pindai Tinggi Untuk Wafe Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang digunakan untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis permukaan di berbagai bidang seperti nanoteknologi, ilmu material, dan biologi. Dengan kemampuan canggih dan pengukuran yang ...

Mikroskop Gaya Atom Pemindaian Modulasi Gaya dengan Resolusi Tinggi Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom adalah instrumen canggih yang dirancang untuk pencitraan dan analisis resolusi tinggi pada tingkat skala nano. Dengan kemampuan canggihnya, mikroskop ini menawarkan kinerja tak tertandingi dalam ...

Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi Untuk Analisis Skala Nano Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat serbaguna untuk analisis permukaan, yang umum digunakan dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Perangkat canggih ini menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa dan ...

Deskripsi produk:Mikroskop Kerr adalah instrumen yang sangat canggih dan serbaguna yang dirancang untuk pengamatan domain magnetik dan pengujian medan magnet yang kuat,memanfaatkan Magneto-Optical Kerr Effect untuk memberikan pencitraan yang tepat dan terperinci dari bahan magnetMikroskop state-of...

Mikroskop Kerr Magneto-Optik Uji-Putar Multifungsi Model Produk: KMPL-S Deskripsi Peralatan: Instrumen ini memungkinkan pencitraan domain magnetik resolusi tinggi dari bahan magnetik dan chip spintronik, dengan resolusi hingga 250 nm. Dilengkapi dengan sistem kontrol yang sangat cerdas dan stasiun ...

Mikroskop Kerr Magnet Permanen Pengantar Produk Dirancang untuk penelitian mendalam tentang bahan magnet permanen, instrumen pengujian presisi canggih ini memungkinkan pengukuran presisi resolusi tinggi dan pengamatan rinci efek Kerr magneto-optik longitudinal, transversal, dan vertikal di bawah ...