Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современный сканирующий силовой микроскоп, разработанный для обеспечения непревзойденных возможностей получения изображений и измерений в наномасштабе. Благодаря усовершенствованному трехкоординатному методу сканирования образца по осям XYZ, эт...

Высокая чувствительность для слабого магнетизма и изучения 2D материалов Описание продукта: С переменным диапазоном температуры от 4,2 до 420 К исследователи имеют гибкость для изучения широкого спектра материалов в различных тепловых условиях.Этот широкий температурный диапазон идеально подходит дл...

Введение продукта Разработанный для углубленного исследования материалов с постоянными магнитами, этот передовой инструмент для точных испытаний позволяет с высоким разрешением точно измерять и детально наблюдатьПродольные, поперечные и вертикальные магнитооптические эффекты Керрапри строгих условия...

Многофункциональный микроскоп атомной силы Модель продукта: AtomEdge Pro Описание продукта: Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как кон...

Криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем Введение в продукт Разработанная для слабых магнитных свойств, небольшого размера, непроводящей природы, низкого коэрцитивного поля и низкой температуры Кюри двумерных ферромагнитных материалов, эта мощная система характери...

Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовая платформа для наноразмерной характеризации, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности в анализе поверхности. Благодаря возможности работы с образцами размером до 25 мм, этот прибор идеально подходит для ...

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электрост...

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это современный инструмент, предназначенный для обеспечения непревзойденной точности и универсальности в картографировании свойств поверхности в наномасштабе.Проектировано для удовлетворения требований передовых исследований и промышленных приложений, ...

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый и универсальный инструмент, предназначенный для обеспечения точной характеристики поверхности с помощью нескольких режимов работы.Этот многофункциональный микроскоп включает в себя ряд методов, включая электростатическую микроскопию ...