Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force à balayage de pointe, à la pointe de la technologie, conçu pour offrir des capacités d'imagerie et de mesure inégalées à l'échelle nanométrique. Grâce à sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois ...

MOKE de haute sensibilité pour le magnétisme faible et l'étude des matériaux 2D Description du produit: Avec une plage de température variable allant de 4,2 K à 420 K, les chercheurs ont la flexibilité d'étudier un large éventail de matériaux dans différentes conditions thermiques.Cette large plage ...

Introduction du produit Conçu pour la recherche approfondie sur les matériaux à aimants permanents, cet instrument de test de précision avancée permet une mesure précise à haute résolution et une observation détaillée deseffets de Kerr magnéto-optiques longitudinaux, transversaux et verticauxdans ...

Microscope à force atomique multifonctionnel Modèle du produit : AtomEdge Pro Description du produit : Le microscope à force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, ...

Système de micro-imagerie laser à champ magnétique élevé cryogénique Kerr Introduction du produit Développé pour le faible magnétisme, la petite taille, la nature non conductrice, le faible champ coercitif et la basse température de Curie des matériaux ferromagnétiques bidimensionnels,Ce puissant ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe conçue pour fournir une précision et une polyvalence inégalées dans l'analyse de surface.d'une capacité de taille d'échantillon maximale de 25 mm, cet instrument est ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y ...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées dans la cartographie des propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Conçu pour répondre aux exigences des applications industrielles et de ...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument très avancé et polyvalent conçu pour fournir une caractérisation précise des surfaces grâce à de multiples modes de fonctionnement. Ce microscope multifonctionnel intègre une gamme de techniques, notamment la microscopie ...