Found
59
products for "high resolution microscope
"-
حالت های MFM/KPFM برای مشخصه سازی دقیق مواد نانوماتیک
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک میکروسکوپ نیروی اسکن پیشرفته است که برای ارائه قابلیت های تصویربرداری و اندازه گیری بی نظیر در مقیاس نانو طراحی شده است.با روش پیشرفته اسکن نمونه کامل سه محور XYZ، این AFM امکان بررسی دقیق و جامع سطوح نمونه را فراهم می کند و دقت بالا و تکرار پذیری را در تح... -
میکروسکوپ کر با میدان مغناطیسی بالا، سیستم MOKE با حساسیت بالا برای مغناطیسی ضعیف و مطالعه مواد دو بعدی
MOKE حساسیت بالا برای مغناطیس ضعیف و مطالعه مواد دو بعدی توضیحات محصول: با طیف دمایی متغیر از 4.2 K تا 420 K، محققان انعطاف پذیری زیادی برای مطالعه طیف گسترده ای از مواد در شرایط حرارتی مختلف دارند.این محدوده وسیع دما برای بررسی خواص مواد مغناطیسی ضعیف در دمای پایین ایده آل است، ارائه بینش ارزشمند د... -
میکروسکوپ اثر کر مغناطیسی دائم
معرفی محصول این ابزار پیشرفته آزمایش دقیق که برای تحقیقات عمیق در مورد مواد مغناطیس دائمی طراحی شده است، امکان اندازه گیری دقیق با وضوح بالا و مشاهده دقیقاثرات کِر مگنتو آپتیکال طولی، قطبی و عمودیدر شرایط آزمایش سختگیرانه (کشورهای مغناطیسی قوی، دمای محیط، دمای بالا) برای اطمینان از ثبات نمونه در طول ... -
میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره
میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره مدل محصول: AtomEdge Pro توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره AtomEdge Pro می تواند تصویربرداری سه بعدی از مواد، دستگاه های الکترونیکی، نمونه های بیولوژیکی و غیره را انجام دهد. این دستگاه دارای حالت های کاری متعددی مانند تماس، ضربه و غیر تماسی است که گزینه ها... -
میکروسکوپ کر کریوجنیک میدان مغناطیسی بالا سیستم تصویربرداری لیزری کر
سیستم تصویربرداری میکرو لیزری کر با میدان مغناطیسی بالا و برودتی معرفی محصول این سیستم مشخصهیابی قدرتمند که برای مغناطیس ضعیف، اندازه کوچک، ماهیت غیر رسانا، میدان اجباری کم و دمای کوری پایین مواد فرومغناطیسی دو بعدی توسعه یافته است، دارای دقت تشخیص مغناطیسی بالا، اندازهگیری و موقعیتیابی نقطهای ب... -
پلتفرم تشخیص همهکاره – ماژولهای سفارشی و میکروسکوپ چند نیرو برای علم مواد
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک پلتفرم مشخصه یابی نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه دقت و تطبیق پذیری بی نظیر در تجزیه و تحلیل سطح طراحی شده است. با ظرفیت اندازه نمونه تا 25 میلی متر، این ابزار برای بررسی طیف گسترده ای از مواد و ساختارها در مقیاس نانو ایده آل است و آن را به ابزاری ضرو... -
اندازه گیری چند عملکردی (MFM/EFM) برای مطالعات علمی هدفمند
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار پیشرفته است که برای اندازهگیری چند منظوره طراحی شده است و تطبیقپذیری و دقت بینظیری را در تصویربرداری و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو ارائه میدهد. این AFM پیشرفته، انواع حالتهای اندازهگیری، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکرو... -
اسکن سه بعدی انعطاف پذیر برای الکترونیک، مواد زیستی و کاربردهای تحقیق دقیق
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که برای ارائه دقت بی نظیر و قابلیت های گوناگون در نقشه برداری ویژگی های سطحی در مقیاس نانو طراحی شده است.طراحی شده برای برآورده کردن الزامات پیشرفته تحقیقات و کاربردهای صنعتی، این AFM مجموعه ای جامع از ویژگی ها را ارائه می دهد که آن را یک ... -
تصویربرداری سه بعدی در مقیاس نانو برای تحقیقات نیمه هادی و مواد پیشرفته
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار پیشرفته و متنوع است که برای ارائه ویژگی های دقیق سطح از طریق حالت های عملیاتی متعدد طراحی شده است.این میکروسکوپ چند منظوره شامل طیف وسیعی از تکنیک ها از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپی نیروی سنجش اسکنین کلوین (KPFM) ، میکر...