میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره

Name: میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره مدل محصول: AtomEdge Pro توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره AtomEdge Pro می تواند تصویربرداری سه بعدی از مواد، دستگاه های الکترونیکی، نمونه های بیولوژیکی و غیره را انجام دهد. این دستگاه دارای حالت های کاری متعددی مانند تماس، ضربه و غیر تماسی است که گزینه ها...

برچسب ها:

میکروسکوپ AFM,سیستم های AFM,میکروسکوپ سنج اسکن

میکروسکوپی نیروی اتمی AFM چند کارکردی,میکروسکوپی نیروی اتمی AFM دقیق,میکروسکوپ دقیق زیست شناسی

Scanning Probe Microscope

جزئیات محصول

برجسته کردن:

میکروسکوپی نیروی اتمی AFM چند کارکردی

میکروسکوپی نیروی اتمی AFM دقیق

میکروسکوپ دقیق زیست شناسی

Name: میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

Scanning Method: اسکن نمونه کامل سه محوره XYZ

Scanning Range: 100 میکرومولار x100 میکرومتر 10 میکرومتر

Scanning Rate: 0.1-30 هرتز

Noise Level In The XY Direction: 0.4 نانومتر

Noise Level In The Z Direction: 0.04 نانومتر

ویژگی های اساسی

مکان مبداء: چین

نام تجاری: Truth Instruments

شماره مدل: Atomedge Pro

املاک تجاری

حداقل مقدار سفارش: 1

قیمت: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

شرایط پرداخت: t/t

توضیحات محصول

میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره

مدل محصول:

AtomEdge Pro

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره AtomEdge Pro می تواند تصویربرداری سه بعدی از مواد، دستگاه های الکترونیکی، نمونه های بیولوژیکی و غیره را انجام دهد. این دستگاه دارای حالت های کاری متعددی مانند تماس، ضربه و غیر تماسی است که گزینه های عملیاتی انعطاف پذیرتر و دقیق تری را در اختیار کاربران قرار می دهد. علاوه بر این، حالت های عملکردی متعددی مانند میکروسکوپ نیروی مغناطیسی، میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک، میکروسکوپ کلوین اسکن و میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک را ادغام می کند که از پایداری قوی و مقیاس پذیری خوبی برخوردار است. علاوه بر این، ماژول های عملکردی را می توان با توجه به نیازهای کاربر به طور انعطاف پذیر سفارشی کرد و راه حل های هدفمندی را برای زمینه های تحقیقاتی خاص ارائه داد و به یک پلت فرم تشخیص کارآمد با چندین استفاده در یک دستگاه دست یافت.

عملکرد تجهیزات:

اندازه نمونه	25 میلی متر
روش اسکن	اسکن کامل سه محوره XYZ نمونه
محدوده اسکن	100 μm x100 μmx 10 μm
سرعت اسکن	0.1-30 هرتز
سطح نویز در جهت XY	0.4 نانومتر
سطح نویز در جهت Z	0.04 نانومتر
غیر خطی بودن	0.15٪ در جهت xY و 1٪ در جهت Z
نقطه نمونه برداری تصویر	حداکثر وضوح تصویر پروب اسکن 4096x4096 است
حالت کار	حالت تماس، حالت ضربه، حالت تصویربرداری فاز، حالت بالابر، حالت اسکن چند جهته
چند منظوره اندازه گیری	میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)، منحنی نیرو