مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف

Name: مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف طراز المنتج: AtomEdge Pro وصف المنتج: يمكن لمجهر القوة الذرية متعدد الوظائف AtomEdge Pro إجراء تصوير مسح ثلاثي الأبعاد على المواد والأجهزة الإلكترونية والعينات البيولوجية وما إلى ذلك. يتميز بأوضاع عمل متعددة مثل التلامس والنقر وغير التلامس، مما يوفر للمستخدمين خيارات ...

العلامات:

مجهر AFM,أنظمة AFM,المجهر المسح

المجهر الذري للقوة متعدد الوظائف,المجهر الذري للقوة الدقيق,مجهر بيولوجي دقيق

Scanning Probe Microscope

تفاصيل المنتج

إبراز:

المجهر الذري للقوة متعدد الوظائف,المجهر الذري للقوة الدقيق,مجهر بيولوجي دقيق

AFM Atomic Force Microscopy Precise

Precise Biology Microscope

Name: AFM المجهري القوة الذرية

Scanning Method: XYZ ثلاث محاور كاملة العينة المسح

Scanning Range: 100 ميكرون x100 μMX 10 ميكرون

Scanning Rate: 0.1-30 هرتز

Noise Level In The XY Direction: 0.4 نانومتر

Noise Level In The Z Direction: 0.04 نانومتر

الخصائص الأساسية

مكان المنشأ: الصين

الاسم التجاري: Truth Instruments

رقم الطراز: Atomedge Pro

تداول العقارات

كمية الحد الأدنى للطلب: 1

سعر: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

شروط الدفع: ر/ر

وصف المنتج

مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف

طراز المنتج:

AtomEdge Pro

وصف المنتج:

يمكن لمجهر القوة الذرية متعدد الوظائف AtomEdge Pro إجراء تصوير مسح ثلاثي الأبعاد على المواد والأجهزة الإلكترونية والعينات البيولوجية وما إلى ذلك. يتميز بأوضاع عمل متعددة مثل التلامس والنقر وغير التلامس، مما يوفر للمستخدمين خيارات تشغيل أكثر مرونة ودقة. بالإضافة إلى ذلك، فهو يدمج أوضاعًا وظيفية متعددة مثل المجهر المغناطيسي، والمجهر الكهروستاتيكي، ومجهر كيلفن الماسح، والمجهر الكهروضغطي، ويتميز بثبات قوي وقابلية جيدة للتوسع. بالإضافة إلى ذلك، يمكن تخصيص الوحدات الوظيفية بمرونة وفقًا لاحتياجات المستخدم، مما يوفر حلولًا مستهدفة لمجالات بحث محددة وتحقيق منصة كشف فعالة متعددة الاستخدامات في جهاز واحد.

أداء الجهاز:

حجم العينة	25 ملم
طريقة المسح	مسح عينة كاملة ثلاثية المحاور XYZ
نطاق المسح	100 μm x100 μmx 10 μm
معدل المسح	0.1-30 هرتز
مستوى الضوضاء في اتجاه XY	0.4 نانومتر
مستوى الضوضاء في اتجاه Z	0.04 نانومتر
عدم الخطية	0.15% في اتجاه XY و 1% في اتجاه Z
نقطة أخذ عينات الصورة	الحد الأقصى لدقة صورة مسبار المسح هو 4096x4096
وضع العمل	وضع التلامس، وضع النقر، وضع تصوير الطور، وضع الرفع، وضع المسح متعدد الاتجاهات
متعدد الوظائف قياس	مجهر القوة الكهروستاتيكية (EFM)، مجهر كيلفن الماسح (KPFM)، مجهر القوة الكهروضغطية (PFM)، مجهر القوة المغناطيسية (MFM)، منحنى القوة