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Microscopio de fuerza atómica multifunción
Microscopía de la fuerza atómica multifuncional AFM
,AFM Microscopía de la fuerza atómica Precisión
,Microscopio de biología precisa
Propiedades básicas
Propiedades comerciales
AtomEdge Pro es un juego de cartas.
El microscopio de fuerza atómica multifuncional AtomEdge Pro puede realizar imágenes tridimensionales de material, dispositivos electrónicos, muestras biológicas, etc.Dispone de múltiples modos de trabajo como el contactoAdemás, integra múltiples modos funcionales, como la microscopía de fuerza magnética, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético y la microscopía de campo magnético.microscopía de fuerza electrostáticaAdemás, los módulos funcionales se pueden personalizar de manera flexible de acuerdo con las necesidades del usuario.proporcionar soluciones específicas para campos de investigación específicos y lograr una plataforma de detección eficiente con múltiples usos en una misma máquina.
| Tamaño de la muestra | 25 mm |
| Método de escaneo | Escaneo de muestra completa en tres ejes XYZ |
| Rango de exploración | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Velocidad de exploración | 0.1 a 30 Hz |
| Nivel de ruido en la dirección XY | 0.4 nm |
| Nivel de ruido en la dirección Z | 0.04 nm |
| No linealidad | 0.15% en la dirección xY y 1% en la dirección Z |
| Imagen Punto de muestreo | La resolución máxima de la imagen de la sonda de exploración es de 4096x4096 |
| Modo de trabajo | Modo de contacto, modo tap, modo de imagen de fase, modo de elevación, modo de escaneo multidireccional |
| Es multifuncional. Medidas |
Microscopio de fuerza electrostática (EFM), microscopio de escaneo Kelvin (KPFM), microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM), microscopio de fuerza magnética (MFM), curva de fuerza |
Titanato de estroncio (STO)- Modo de escaneo:Modo de toque
- Rango de escaneo: 4 mm x 4 μm
- Película de titanio - Película de titanato de aluminio
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza de piezorespuesta (PFM)
- Rango de exploración: 10 μmx10 μm
- Película fina de sulfuro de vanadio
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza electrostática (EFM)
- Rango de exploración: 5 μm x 5 μm
- Película fina de sulfuro de vanadio
- Modo de exploración: microscopía de fuerza de la sonda Kelvin (KPFM)
- Rango de exploración: 5 μm x 5 μm
- Dominio de laberinto y Skyrmions en la pila mTJ:SAF/MgO/[Ta/Co/Pt]9
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza magnética (MFM)
- Rango de exploración: 10 μm x 10 μm
- Película delgada
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza magnética (MFM)
- Rango de exploración: 30 μm x 30 μm
- Grafito pirolítico de fase alta estacionaria (HOPG)
- Modo de escaneo: Modo de toque
- Rango de exploración: .45 mm x 45 mm
- Al2O3 Morfología del bigote
- Modo de escaneo: Modo de toque
- Rango de exploración: 15 μm x 15 μm
- Morfología del polímero de resina epoxi
- Modo de escaneo: Modo de toque
- Rango de exploración: 7 μm x 7 μm
- Magnetismo de película delgada de Pt-Co
- Modo de escaneo: MFM (modo de elevación)
- Rango de exploración: 5 μm x 5 μm
- Película delgada de niobato de litio
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza de piezorespuesta (PFM)
- Rango de escaneo: 35 μm x 35 μm
- Bacilos inmobilis
- Modo de exploración: medición de la topografía
- Rango de exploración: 3 μm x 3 μm
