Çok İşlevli Atomik Kuvvet Mikroskobu

Name: Çok İşlevli Atomik Kuvvet Mikroskobu
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskobu Ürün Modeli: AtomEdge Pro Ürün Açıklaması: AtomEdge Pro çok işlevli atomik kuvvet mikroskobu, malzemeler, elektronik cihazlar, biyolojik örnekler vb. üzerinde üç boyutlu taramalı görüntüleme gerçekleştirebilir. Temaslı, dokunmalı ve temassız gibi çoklu çalı...

Etiketler:

AFM mikroskobu

AFM Sistemleri

Tarama Sondu Mikroskopu

Ürün Ayrıntıları

Vurgulamak:

Çok fonksiyonel AFM Atomik Kuvvet Mikroskopi

AFM Atomik Kuvvet Mikroskopisi

Bioloji Mikroskopu

Name: AFM atomik kuvvet mikroskopisi

Scanning Method: XYZ Üç Eksenli Tam Örnek Tarama

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0.1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 deniz mili

Noise Level In The Z Direction: 0.04 nm

Temel özellikler

Menşe yeri: ÇİN

Marka Adı: Truth Instruments

Model Numarası: Atomedge Pro

Ticaret Mülkleri

Asgari sipariş miktarı: 1

Fiyat: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Ödeme Şartları: T/T

Ürün Tanımı

Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskobu

Ürün Modeli:

AtomEdge Pro

Ürün Açıklaması:

AtomEdge Pro çok işlevli atomik kuvvet mikroskobu, malzemeler, elektronik cihazlar, biyolojik örnekler vb. üzerinde üç boyutlu taramalı görüntüleme gerçekleştirebilir. Temaslı, dokunmalı ve temassız gibi çoklu çalışma modlarına sahip olup kullanıcılara daha esnek ve hassas çalışma seçenekleri sunar. Buna ek olarak, manyetik kuvvet mikroskobu, elektrostatik kuvvet mikroskobu, taramalı Kelvin mikroskobu ve piezoelektrik kuvvet mikroskobu gibi çoklu fonksiyonel modları entegre ederek güçlü stabilite ve iyi ölçeklenebilirlik sunar. Ek olarak, fonksiyonel modüller kullanıcı ihtiyaçlarına göre esnek bir şekilde özelleştirilebilir, belirli araştırma alanları için hedefe yönelik çözümler sağlayabilir ve tek bir makinede birden fazla kullanıma sahip verimli bir tespit platformu elde edilebilir.

Ekipman Performansı:

Örnek Boyutu	25mm
Tarama Yöntemi	XYZ üç eksenli tam örnek tarama
Tarama Aralığı	100 μm x100 μmx 10 μm
Tarama Hızı	0,1-30Hz
XY Yönünde Gürültü Seviyesi	0,4 nm
Z Yönünde Gürültü Seviyesi	0,04 nm
Doğrusal olmama	xY yönünde %0,15 ve Z yönünde %1
görüntü Örnekleme Noktası	Tarama probu görüntüsünün maksimum çözünürlüğü 4096x4096'dır
Çalışma Modu	Temas modu, kademe modu, faz görüntüleme modu, kaldırma modu, çok yönlü tarama modu
Çok fonksiyonlu Ölçüm	Elektrostatik kuvvet mikroskobu (EFM), taramalı Kelvin mikroskobu (KPFM), piezoelektrik kuvvet mikroskobu (PFM),manyetik kuvvet mikroskobu (MFM), kuvvet eğrisi