English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
Πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης
Πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης Πρότυπο προϊόντος: AtomEdge Pro Περιγραφή του προϊόντος: Το πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης AtomEdge Pro μπορεί να εκτελέσει τρισδιάστατη απεικόνιση σάρωσης υλικών, ηλεκτρονικών συσκευών, βιολογικών δειγμάτων κλπ.Διαθέτει πολλαπλές λειτουργίε...
Λεπτομέρειες προιόντος
Επισημαίνω:
Πολυλειτουργικό AFM μικροσκόπιο ατομικής δύναμης
,AFM μικροσκόπιο ατομικής δύναμης Ακριβείας
,Ακριβές μικροσκόπιο Βιολογίας
Name:
Μικροσκοπία ατομικής δύναμης AFM
Scanning Method:
XYZ πλήρης σάρωση δείγματος τριών αξόνων
Scanning Range:
100 μm x100 μmx 10 μm
Scanning Rate:
0,1-30 Hz
Noise Level In The XY Direction:
0,4 nm
Noise Level In The Z Direction:
0,04 nm
Βασικές ιδιότητες
Τόπος προέλευσης:
ΚΙΝΑ
Ονομασία μάρκας:
Truth Instruments
Αριθμός μοντέλου:
Ψεκασμός
Εμπορικά Ακίνητα
Ελάχιστη ποσότητα παραγγελίας:
1
Τιμή:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Όροι πληρωμής:
T/t
Περιγραφή προϊόντων
Πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης
Πρότυπο προϊόντος:
AtomEdge Pro
Περιγραφή του προϊόντος:
Το πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης AtomEdge Pro μπορεί να εκτελέσει τρισδιάστατη απεικόνιση σάρωσης υλικών, ηλεκτρονικών συσκευών, βιολογικών δειγμάτων κλπ.Διαθέτει πολλαπλές λειτουργίες όπως επαφήΗ τεχνολογία αυτή παρέχει στους χρήστες πιο ευέλικτες και ακριβείς δυνατότητες λειτουργίας.ηλεκτροστατική μικροσκόπηση δύναμηςΕπιπλέον, οι λειτουργικές ενότητες μπορούν να προσαρμοστούν ευέλικτα σύμφωνα με τις ανάγκες του χρήστη,παροχή στοχευμένων λύσεων για συγκεκριμένους τομείς έρευνας και επίτευξη αποτελεσματικής πλατφόρμας ανίχνευσης με πολλαπλές χρήσεις σε ένα μηχάνημα.
Απόδοση εξοπλισμού:
| Μέγεθος δείγματος | 25 χιλιοστά |
| Μέθοδος σάρωσης | XYZ τρισάξονα πλήρους σαρώσεως δείγματος |
| Πεδίο σάρωσης | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Ταχύτητα σάρωσης | 0.1-30 Hz |
| Επίπεδο θορύβου στην κατεύθυνση XY | 0.4 nm |
| Επίπεδο θορύβου προς την κατεύθυνση Z | 00,04 nm |
| Μη γραμμικότητα | 00,15% προς την κατεύθυνση xY και 1% προς την κατεύθυνση Z |
| Εικόνα Σημείο δειγματοληψίας | Η μέγιστη ανάλυση της εικόνας ανίχνευσης είναι 4096x4096 |
| Τρόπος λειτουργίας | Τρόπος επαφής, λειτουργία κτύπησης, λειτουργία απεικόνισης φάσης, λειτουργία ανύψωσης, λειτουργία πολλαπλής κατεύθυνσης σάρωσης |
| Πολυλειτουργικό Μέτρηση |
Ηλεκτροστατικό μικροσκόπιο δύναμης (EFM), μικροσκόπιο σάρωσης Κέλβιν (KPFM), μικροσκόπιο πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM), μικροσκόπιο μαγνητικής δύναμης (MFM), καμπύλη δύναμης |
Υποθέσεις εφαρμογής:
Στροντίδιο τιτανικό (STO)- Τρόπος σάρωσης: Τρόπος πάτημα
- Πεδίο σάρωσης: 4 μm x 4 μm
- Φύλλα τιτανίου - Φύλλα τιτανικού αλουμινίου
- Τρόπος σάρωσης: μικροσκόπηση δύναμης πίεσης (PFM)
- Περιοχή σάρωσης: 10 μmx10 μm
- Πλακέτα λεπτής επιφάνειας θειούχου βαναδίου
- Τρόπος σάρωσης: Ηλεκτροστατική μικροσκόπηση δυνάμεων (EFM)
- Περιοχή σάρωσης: 5 μm x 5 μm
- Πλακέτα λεπτής επιφάνειας θειούχου βαναδίου
- Τρόπος σάρωσης: μικροσκόπηση δύναμης με ανιχνευτή Kelvin (KPFM)
- Περιοχή σάρωσης: 5 μm x 5 μm
- Τομέας λαβύρινθου καιSkyrmions στη στοίβα mTJ:SAF/MgO/[Ta/Co/Pt]9
- Τρόπος σάρωσης: Μαγνητική μικροσκόπηση (MFM)
- Περιοχή σάρωσης: 10 μm x 10 μm
- Co/Pt λεπτή ταινία
- Τρόπος σάρωσης: Μαγνητική μικροσκόπηση (MFM)
- Περιοχή σάρωσης: 30 μm x 30 μm
- Υψηλής στάθμης πυρολυτικός γραφίτης (HOPG)
- Τρόπος σάρωσης: Τρόπος πάτησης
- Πεδίο σάρωσης: .45 μμ x 45 μμ
- Al2O3 Μορφολογία μουστάκι
- Τρόπος σάρωσης: Τρόπος πάτησης
- Περιοχή σάρωσης: 15 μm x 15 μm
- Μορφολογία των πολυμερών από επωξική ρητίνη
- Τρόπος σάρωσης: Τρόπος πάτησης
- Περιοχή σάρωσης: 7 μm x 7 μm
- Μαγνητισμός λεπτής ταινίας Pt-Co
- Τρόπος σάρωσης: MFM (Tύπος ανύψωσης)
- Περιοχή σάρωσης: 5 μm x 5 μm
- Λιθιονιοβατικό λεπτό στρώμα
- Τρόπος σάρωσης: μικροσκόπηση δύναμης πίεσης (PFM)
- Περιοχή σάρωσης: 35 μm x 35 μm
- Bacillus Immobilis
- Τρόπος σάρωσης: Μέτρηση τοπογραφίας
- Περιοχή σάρωσης: 3 μm x 3 μm
Στείλε Ερευνά
