Multifunktionales Rasterkraftmikroskop

Name: Multifunktionales Rasterkraftmikroskop
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multifunktionales Rasterkraftmikroskop Produktmodell: AtomEdge Pro Produktbeschreibung: Das multifunktionale Rasterkraftmikroskop AtomEdge Pro kann dreidimensionale Scanbilder von Materialien, elektronischen Bauelementen, biologischen Proben usw. erstellen. Es verfügt über mehrere Arbeitsmodi wie ...

Umbauten:

AFM -Mikroskop

AFM Systeme

Rasterkraftmikroskop

Produktdetails

Hervorheben:

Multifunktionale AFM AtomKraftmikroskopie

AFM AtomKraftmikroskopie Präzision

Präzises Biomikroskop

Name: AFM -AtomKraftmikroskopie

Scanning Method: XYZ Drei-Achsen Vollprobenscanning

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0,1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 Nanometer

Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm

Grundlegende Eigenschaften

Herkunftsort: CHINA

Markenbezeichnung: Truth Instruments

Modellnummer: Atomedge Pro

Immobilienhandel

Mindestbestellmenge: 1

Preis: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Zahlungsbedingungen: T/t

Produkt-Beschreibung

Multifunktionales Rasterkraftmikroskop

Produktmodell:

AtomEdge Pro

Produktbeschreibung:

Das multifunktionale Rasterkraftmikroskop AtomEdge Pro kann dreidimensionale Scanbilder von Materialien, elektronischen Bauelementen, biologischen Proben usw. erstellen. Es verfügt über mehrere Arbeitsmodi wie Kontakt, Tapping und Non-Contact, die den Benutzern flexiblere und präzisere Bedienungsoptionen bieten. Darüber hinaus integriert es mehrere Funktionsmodi wie Magnetkraftmikroskopie, Elektrostatische Kraftmikroskopie, Scanning-Kelvin-Mikroskopie und piezoelektrische Kraftmikroskopie und zeichnet sich durch hohe Stabilität und gute Skalierbarkeit aus. Darüber hinaus können Funktionsmodule flexibel an die Bedürfnisse der Benutzer angepasst werden, um gezielte Lösungen für spezifische Forschungsbereiche bereitzustellen und eine effiziente Detektionsplattform mit vielfältigen Einsatzmöglichkeiten in einem Gerät zu realisieren.

Geräteleistung:

Probengröße	25 mm
Scanmethode	XYZ-Drei-Achsen-Vollprobenscan
Scanbereich	100 μm x 100 μm x 10 μm
Scangeschwindigkeit	0,1-30 Hz
Rauschpegel in XY-Richtung	0,4 nm
Rauschpegel in Z-Richtung	0,04 nm
Nichtlinearität	0,15 % in der XY-Richtung und 1 % in der Z-Richtung
Bildabtastpunkt	Die maximale Auflösung des Scan-Sondenbildes beträgt 4096x4096
Arbeitsmodus	Kontaktmodus, Tapping-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus, multidirektionaler Scanmodus
Multifunktional Messung	Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Scanning-Kelvin-Mikroskop (KPFM), piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM), Magnetkraftmikroskop (MFM), Kraftkurve