製品の説明: Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、幅広い材料の表面特性評価を実現するために設計された、高度な研究室用AFM装置です。高安定性AFM技術を搭載しており、ナノスケールでの調査において精度、再現性、汎用性を求める研究者や科学者にとって、優れた性能を発揮します。その堅牢な設計と多機能性により、学術研究環境と産業研究環境の両方において不可欠なツールとなっています。 このBasic型AFMの際立った特徴の1つは、その多様な動作モードです。これには、タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードが含まれます。これらの動作モードにより、ユーザーはさまざまな条件下で表面...

製品の説明:Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、科学研究および産業界の研究開発用途の多様なニーズに対応するために設計された、多用途で高性能な機器です。この多機能AFMは、静電フォース顕微鏡（EFM）、走査型ケルビン探針フォース顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）などの高度な測定モードを搭載しています。これらの機能により、研究者やエンジニアは、幅広いナノスケール表面分析を実施でき、材料科学、半導体研究、ナノテクノロジー開発に不可欠なツールとなっています。このBasic型AFMの際立った特徴の1つは、最大φ25mmのサンプルに対応できることで、さまざま...

製品説明: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applications先端技術で設計されたこのAFMモデルでは 優れた画像処理能力があり ユーザが ナノメートルのスケールで 表面構造を 驚くほど明確で正確に 調べることができます堅牢なデザインにより...

製品の説明: 基本型原子間力顕微鏡（AFM）は、高度でありながら使いやすいAFM装置を求める研究室向けに特別に設計された、非常に汎用性の高い信頼性の高い走査型プローブ顕微鏡です。このモデルは、材料表面の特性評価のための包括的な機能を提供し、研究者や科学者がナノスケールで詳細な地形情報と機械的情報を、卓越した精度で取得できるようにします。 この基本型AFMの際立った特徴の1つは、そのマルチモード動作機能です。タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードをサポートしており、ユーザーはサンプルタイプと分析したい特定の表面特性に応じて、走査アプローチを調整できます。タップモード...

スピントロニクス材料の磁化イメージング用Cryo MOKEシステム 製品説明: 科学研究用ヒステリシスループ測定器は、精密で便利な面内および垂直磁場測定のために設計された最先端のツールです。この機器は、あらゆる極低温磁気イメージングシステムおよび2D材料特性評価システムの不可欠なコンポーネントであり、研究者に科学実験に役立つデータを提供します。 8 mmのエアギャップで1 T、16 mmのエアギャップで0.5 Tの面内磁場能力を備えたこの機器は、多様な試験機能を提供します。ユーザーは、磁場出力の便利で正確な制御から恩恵を受け、実験を特定の要件に合わせて調整できます。さらに、この機器は、縦方向お...