Productbeschrijving:De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd laboratorium-AFM-apparatuur dat is ontworpen om een nauwkeurige en betrouwbare oppervlaktekarakterisering van een breed scala aan materialen te leveren.Gemaakt met AFM-technologie met een hoge stabiliteit, biedt dit ...

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype is een veelzijdig en hoogwaardig instrument dat is ontworpen om te voldoen aan de diverse behoeften van wetenschappelijk onderzoek en industriële R&D-toepassingen. Deze multifunctionele AFM is uitgerust met geavanceerde meetmodi, ...

Productbeschrijving: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsOntworpen met geavanceerde technologie.Dit AFM-model biedt uitzonderlijke ...

Productbeschrijving:De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer veelzijdige en betrouwbare Scanning Probe Microscope die speciaal is ontworpen voor laboratoria die geavanceerde, maar toch gebruiksvriendelijke AFM-apparatuur zoeken.Dit model biedt uitgebreide mogelijkheden voor het ...

Cryo MOKE-systeem voor magnetisering van spintronische materialen Productbeschrijving: Het Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor nauwkeurige en handige in-plane en verticale magnetische veldmetingen.Dit instrument is een ...