logo

Mikroskop siły atomowej

Jakość Mikroskop Sił Atomowych o Wysokiej Rozdzielczości 0,04 Nm Mikroskop Przemysłowy do Analizy w Skali Nano fabryka

Mikroskop Sił Atomowych o Wysokiej Rozdzielczości 0,04 Nm Mikroskop Przemysłowy do Analizy w Skali Nano

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0

Mikroskop Sił Atomowych o Wysokiej Rozdzielczości 0,04 Nm Mikroskop Przemysłowy do Analizy w Skali Nano

Jakość Mikroskop biologiczny siły atomowej Mikroskop sondy skanującej o wysokiej precyzji fabryka

Mikroskop biologiczny siły atomowej Mikroskop sondy skanującej o wysokiej precyzji

High Precision Scanning Probe Microscope 0.15 Nm Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers exceptional capabilities for nanometer resolution surface analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM product provides precise imaging and measurement of samples with dimensions up to 200 mm. One of the key features of this AFM is its versatility in probe types. Users can choose from a variety of

Mikroskop biologiczny siły atomowej Mikroskop sondy skanującej o wysokiej precyzji

Jakość Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości 0,15 Nm, dostosowane mikroskopy atomowe fabryka

Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości 0,15 Nm, dostosowane mikroskopy atomowe

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and

Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości 0,15 Nm, dostosowane mikroskopy atomowe

Zobacz więcej

Mikroskop Kerr

Jakość Przyrząd do pomiaru pętli histerezy Precyzyjne pomiary trasera pętli 1 mdeg fabryka

Przyrząd do pomiaru pętli histerezy Precyzyjne pomiary trasera pętli 1 mdeg

Easy To Use Hysteresis Loop Instrument For Precision Measurements Product Description: The Miniature Hysteresis Loop Measurement Instrument is a high-quality inspection tool designed for efficiently characterizing the hysteresis loop of PMA films within just 15 seconds. This non-destructive magnetic tester offers precise measurements with a magnetic field resolution of 0.05 MT, ensuring accurate results for quality inspection purposes. With a vertical magnetic field of 650 MT

Przyrząd do pomiaru pętli histerezy Precyzyjne pomiary trasera pętli 1 mdeg

Jakość Mikroskop Wektorowe MOKE z magnesem trwałym 450nm do analizy 3D twardych materiałów magnetycznych fabryka

Mikroskop Wektorowe MOKE z magnesem trwałym 450nm do analizy 3D twardych materiałów magnetycznych

Vector MOKE Microscope For 3D Analysis Of Hard Magnetic Materials Product Description: The Permanent Magnet Kerr Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and detailed observation of magnetic materials. With a variable temperature range of 298 K to 798 K, this microscope enables researchers to study material properties across a wide temperature spectrum, allowing for in-depth analysis of magnetic behavior under varying thermal conditions.

Mikroskop Wektorowe MOKE z magnesem trwałym 450nm do analizy 3D twardych materiałów magnetycznych

Jakość Biurkowy system MOKE do badania pętli histerezy dla nieniszczącej analizy histerezy cienkich warstw fabryka

Biurkowy system MOKE do badania pętli histerezy dla nieniszczącej analizy histerezy cienkich warstw

Desktop MOKE for Non destructive Thin Film Hysteresis Analysis Product Description: The Miniature Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge device designed for rapid magnetic film analysis and precise measurement of coercivity using MOKE magnetometer technology. This advanced instrument features an intuitive operating system with a 10.4-inch all-in-one touch control panel running on the WIN7 system, providing a user-friendly interface for efficient data

Biurkowy system MOKE do badania pętli histerezy dla nieniszczącej analizy histerezy cienkich warstw

Zobacz więcej