0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis

Описание продукта:

Криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем - это передовой научный прибор, разработанный для исследователей и ученых, работающих в области низкотемпературной магнитооптики. Эта передовая система предлагает непревзойденные возможности для измерения Керра в микрообласти и измерения намагниченности, что делает ее незаменимым инструментом для изучения магнитных материалов в наномасштабе.

Обладая разрешением по магнитному полю, достигнутым благодаря регулированию с обратной связью по ПИД-закону, система предлагает исключительную точность с разрешением 0,05 мТ. Этот высокий уровень контроля позволяет исследователям манипулировать и изучать магнитные свойства материалов с беспрецедентной точностью, что позволяет совершать новаторские открытия в области магнетизма.

Диапазон переменных температур системы составляет от 4,2 К до 420 К, что предоставляет исследователям гибкость для исследования свойств материалов в широком диапазоне температур. Будь то изучение магнитных фазовых переходов или исследование магнитного поведения при экстремальных температурах, эта система предлагает универсальность, необходимую для проведения всесторонних исследований в области низкотемпературной магнитооптики.

Благодаря оптическому разрешению 450 нм система обеспечивает четкие и детальные изображения микрообластей, находящихся в исследовании. Исследователи могут получать высококачественные данные с исключительной четкостью, что позволяет проводить точный анализ магнитных доменов и структур в наномасштабе.

Размер лазерного пятна 5 мкм обеспечивает целевые и локализованные измерения, позволяя исследователям точно определять конкретные области интереса в образце. Этот уровень точности необходим для измерения Керра в микрообласти, где детальный анализ небольших областей имеет решающее значение для понимания магнитных свойств материалов в микромасштабе.

Система оснащена рядом объективов, включая варианты увеличения 5*, 20*, 50* и 100*. Кроме того, объективы немагнитные, что исключает любые помехи от внешних магнитных полей и обеспечивает точные и надежные результаты измерений. Исследователи могут выбрать подходящий объектив в соответствии с конкретными требованиями своих экспериментов, что позволяет проводить индивидуальные и адаптированные исследования магнитных свойств материалов.

Особенности:

• Название продукта: Криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем
• Объективы:
  • 5x
  • 20x
  • 50x
  • 100x
  • Немагнитные
• Разрешение по магнитному полю: регулирование с обратной связью по ПИД-закону, разрешение 0,05 мТ
• Стабильность температуры: ±50 мК
• Диапазон переменных температур: 4,2 К - 420 К
• Оптическое разрешение: 450 нм

Технические параметры:

Применения:

Криогенная лазерная микроскопическая система Керра с высоким магнитным полем от Truth Instruments, модель KMPL-L, является передовым продуктом, произведенным в КИТАЕ. Обладая впечатляющим оптическим разрешением 450 нм, эта система специально разработана для передовых исследований и анализа в области низкотемпературной микроскопии Керра.

Уникальные особенности системы включают магнит с водяным охлаждением, который может генерировать магнитные поля в плоскости 1 Т при воздушном зазоре 18 мм при комнатной температуре и 0,75 Т при воздушном зазоре 28 мм при низкой температуре. Кроме того, возможности вертикального магнитного поля включают 1,6 Т при воздушном зазоре 10,5 мм при комнатной температуре и 1 Т при воздушном зазоре 24 мм при низкой температуре.

Исследователи, работающие со слабыми магнитными материалами, сочтут криогенную лазерную микроскопическую систему Керра с высоким магнитным полем бесценной благодаря ее точным возможностям измерения Керра в микрообласти. Система совместима с измерителями электрического источника, такими как SR830, Keithley 6221 и Keithley 2182 A, что обеспечивает точный и надежный сбор данных.

Будь то изучение магнитных доменов в низкотемпературных условиях или анализ поведения магнитных наночастиц, эта система предлагает непревзойденную производительность и точность. Разрешение по углу Керра 0,5 мград (среднеквадратичное) позволяет получать детальные изображения с высоким разрешением, что делает ее идеальной для широкого спектра исследовательских применений.