English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Indonesia
Düşük Sıcaklık Probu İstasyonunda 2 İnç Numuneler için ±1.20 mK Kararlılığa ve 0-67 GHz Mikrodalgaya Sahip 4 K Kriyojenik Test Cihazı
PS-Cryo 4 K Kriyojenik Prob İstasyonu PS-Cryo 4 K kriyojenik prob istasyonu, 4 K ile 420 K arasında değişen ultra düşük sıcaklıklarda numunelerin hassas elektriksel testleri için tasarlanmış, son teknoloji bir çözümdür. Bu uygun maliyetli sistem, kriyojenik sıcaklıklarda gelişmiş malzemeler ve yarı ...
Ürün Ayrıntıları
Vurgulamak:
±1.20mK istikrarlılık kriyojenik prob istasyonu
,0-67GHz Mikrodalga 4 K Kriyojenik Testör
,2 inçlik örnekler düşük sıcaklıklı sonda istasyonu
DC Probe:
ZN50, Uç Malzemesi Tungsten Veya Berilyum Bakır
Vibration:
Numune aşaması titreşimi <1 μm (tepeden zirveye)
Needing Range:
Ranka İhtiyaç
Number Of Probe Arms:
Standart 4 prob kolu, 8'e kadar desteklenen
Sample Anchor:
51 mm'ye kadar örnek tutucu çapı
Microwave Probe:
0-40 GHz K Tipi Konnektörlü, 0-67 GHz 1,85 Mm Konnektörlü
Thermal Anchor:
Prob Tutucu ve Numune Tablası Sıcaklık Farkı <10 K
Probe Arm Stroke:
Xyz, 50 mm-25 mm-25 mm
Temel özellikler
Marka Adı:
Truth Instruments
Model Numarası:
PS-Cryo
Ürün Tanımı
PS-Cryo 4 K Kriyojenik Prob İstasyonu
PS-Cryo 4 K kriyojenik prob istasyonu, 4 K ile 420 K arasında değişen ultra düşük sıcaklıklarda numunelerin hassas elektriksel testleri için tasarlanmış, son teknoloji bir çözümdür. Bu uygun maliyetli sistem, kriyojenik sıcaklıklarda gelişmiş malzemeler ve yarı iletken cihazlarla çalışan araştırmacılar ve mühendisler için zorlu gereksinimleri karşılamaktadır.
Temel Özellikler
- Kararlı ve hassas ölçümler sağlayan, düşük titreşimli, yüksek vakumlu kriyojenik prob istasyonu
- Prob tutucu ve numune tablası sıcaklık farkı 10 K'den az olan termal çapa
- Frekans aralığı: Düşük sıcaklıklı koaksiyel kablo ile 0-50 MHz, yarı rijit koaksiyel kablo ile 0,1 GHz
- Mikrodalga prob desteği: K-tipi konektör ile 0-40 GHz, 1,85 mm konektör ile 0-67 GHz
- Mevcut numune tutucu tipleri: Toprak, Koaksiyel ve Triaksiyel seçenekler
- Prob kolu strok boyutları: X-Y-Z eksenleri sırasıyla 50 mm, 25 mm ve 25 mm hareket mesafesi
- Minimum çevresel parazit gerektiren gelişmiş kriyojenik test uygulamaları için optimize edilmiştir
Teknik Özellikler
| Parametre | Özellik |
|---|---|
| Titreşim | Numune Tablası Titreşimi<1 μm (tepeden tepeye) |
| Vakum | Düşük sıcaklıklı Vakum<1.2E-3Pa |
| Termal Çapa | Prob Tutucu ve Numune Tablası Sıcaklık Farkı<10 K |
| Elektriksel Kaçak Akım | <100 fA@1 V |
| Numune Sıcaklığı | 4 K-420 K |
| Mikrodalga Prob | K-tipi konektör ile 0-40 GHz, 1,85 mm konektör ile 0-67 GHz |
| Optik Mikroskop | 0.75×-3.75× Sürekli Yakınlaştırma |
| Sıcaklık Kararlılığı | ±<1.20 mK (4 K-420 K) |
| Numune Çapası | Numune Tutucu Çapı 51 mm'ye kadar |
| Prob Kolu Stroku | X-Y-Z, 50 mm-25 mm-25 mm |
Uygulamalar
PS-Cryo Kriyojenik Prob İstasyonu, aşırı sıcaklık koşullarında hassas ölçümler ve analiz için tasarlanmıştır. Yarı iletken cihaz karakterizasyonu, kuantum hesaplama ve süperiletkenlik çalışmaları gibi alanlardaki araştırma ve geliştirme uygulamaları için idealdir.
Tipik uygulamalar arasında düşük sıcaklıklı elektriksel testler, yarı iletken cihaz araştırmaları, düşük sıcaklıklı fizik deneyleri, kuantum cihaz testleri, süperiletken devre karakterizasyonu ve gelişmiş mikrodalga bileşen analizi bulunur. Sistemin GM soğutma kapalı döngü kriyojenik test sistemi, sıvı kriyojenler olmadan güvenilir sürekli soğutma sağlar, bu da onu uygun maliyetli ve çevre dostu hale getirir.
Soru Gönder
