低温探査ステーションの2インチサンプルのための ±1.20mK安定性と0〜67GHzマイクロ波の4K冷凍試験器
PS-Cryo 4 K 極低温プローブステーション PS-Cryo 4 K 極低温プローブステーションは、4 Kから420 Kまでの超低温でのサンプルの精密な電気的試験用に設計された最先端のソリューションです。この費用対効果の高いシステムは、極低温環境下で高度な材料や半導体デバイスを扱う研究者やエンジニアの厳しい要求に応えます。 主な特徴 安定した精密な測定を保証する低振動高真空極低温プローブステーション プローブホルダーとサンプルステージの温度差が10 K未満の熱アンカー 周波数範囲:低温度同軸ケーブルで0~50 MHz、セミリジッド同軸ケーブルで0.1 GHz マイクロ波プローブサポート...
製品詳細
ハイライト:
±1.20mK 安定性 低温探査ステーション
,0〜67GHz マイクロ波 4 K 冷凍検査機
,2インチサンプル 低温探査ステーション
DC Probe:
ZN50、先端材質タングステンまたはベリリウム銅
Vibration:
サンプルステージ振動<1μm(ピーク間)
Needing Range:
範囲が必要です
Number Of Probe Arms:
標準4プローブアーム、最大8個のサポート
Sample Anchor:
サンプルホルダーの直径は最大51 mmです
Microwave Probe:
0 ~ 40 GHz (K タイプ コネクタ付き)、0 ~ 67 GHz (1.85 Mm コネクタ付き)
Thermal Anchor:
プローブホルダーとサンプルステージの温度差 <10 K
Probe Arm Stroke:
XYZ、50 mm-25 mm-25 mm
基本的な特性
ブランド名:
Truth Instruments
モデル番号:
PS-Cryo
製品の説明
PS-Cryo 4 K 極低温プローブステーション
PS-Cryo 4 K 極低温プローブステーションは、4 Kから420 Kまでの超低温でのサンプルの精密な電気的試験用に設計された最先端のソリューションです。この費用対効果の高いシステムは、極低温環境下で高度な材料や半導体デバイスを扱う研究者やエンジニアの厳しい要求に応えます。
主な特徴
- 安定した精密な測定を保証する低振動高真空極低温プローブステーション
- プローブホルダーとサンプルステージの温度差が10 K未満の熱アンカー
- 周波数範囲:低温度同軸ケーブルで0~50 MHz、セミリジッド同軸ケーブルで0.1 GHz
- マイクロ波プローブサポート:K型コネクタで0~40 GHz、1.85 mmコネクタで0~67 GHz
- 利用可能なサンプルホルダーの種類:グランド、同軸、およびトライアキシャルオプション
- プローブアームストローク寸法:X-Y-Z軸でそれぞれ50mm、25mm、25mmの移動距離
- 環境干渉を最小限に抑える高度な極低温試験アプリケーション向けに最適化
技術仕様
| パラメータ | 仕様 |
|---|---|
| 振動 | サンプルステージ振動<1 μm(ピークツーピーク) |
| 真空 | 低温真空<1.2E-3Pa |
| 熱アンカー | プローブホルダーとサンプルステージの温度差<10 K |
| 電気リーク電流 | <100 fA@1 V |
| サンプル温度 | 4 K-420 K |
| マイクロ波プローブ | K型コネクタで0~40 GHz、1.85 mmコネクタで0~67 GHz |
| 光学顕微鏡 | 0.75×-3.75×連続ズーム |
| 温度安定性 | ±<1.20 mK (4 K-420 K) |
| サンプルアンカー | サンプルホルダー直径最大51 mm |
| プローブアームストローク | X-Y-Z、50 mm-25 mm-25 mm |
アプリケーション
PS-Cryo 極低温プローブステーションは、極端な温度条件下での精密な測定と分析のために設計されています。半導体デバイスの特性評価、量子コンピューティング、超伝導研究などの分野における研究開発アプリケーションに最適です。
代表的なアプリケーションには、低温電気試験、半導体デバイス研究、低温物理実験、量子デバイス試験、超伝導回路の特性評価、および高度なマイクロ波コンポーネント分析が含まれます。このシステムのGM冷凍閉ループ極低温試験システムは、液体クライオジェンを使用せずに信頼性の高い連続冷却を提供し、費用対効果が高く、環境に優しいものとなっています。
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