English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
বেসিক টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
মৌলিক বৈশিষ্ট্য
বাণিজ্যিক সম্পত্তি
বেসিক-টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ - অ্যাটমএক্সপ্লোরার
অ্যাটমএক্সপ্লোরার বেসিক-টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ উপাদান পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি এবং টেক্সচার পর্যবেক্ষণের জন্য সাব-ন্যানোমিটার রেজোলিউশন সরবরাহ করে। এটি ন্যানোমিটার থেকে মাইক্রোমিটার পর্যন্ত স্কেলে উপাদান পৃষ্ঠের সূক্ষ্ম কাঠামো এবং ক্ষুদ্র বৈশিষ্ট্যগুলি ক্যাপচার করে, যা উপাদান, চিপ এবং অন্যান্য নমুনার পৃষ্ঠের টপোগ্রাফির বিস্তারিত ভিজ্যুয়াল তথ্য সরবরাহ করে। এই পণ্যটি ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (এমএফএম), ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (ইএফএম), কেলভিন ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (কেএফএম), এবং অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (এএফএম)-এর সাথেও একত্রিত। এটি উচ্চ স্থিতিশীলতা, চমৎকার প্রসারযোগ্যতা এবং কাস্টমাইজেশন পরিষেবা সরবরাহ করে। একটি উচ্চ-নির্ভুলতা টপোগ্রাফি বৈশিষ্ট্যকরণ সরঞ্জাম এবং উচ্চ-ন্যানোস্কেল চৌম্বকীয় এবং বৈদ্যুতিক পরিমাপের জন্য একটি ডিভাইস হিসাবে, এটি শিক্ষা, বৈজ্ঞানিক গবেষণা এবং শিল্প গবেষণা ও উন্নয়নের জন্য অতিরিক্ত বিকল্প এবং সমর্থন সরবরাহ করে।
| আইটেম | বিস্তারিত |
|---|---|
| নমুনার আকার | Φ 25 মিমি |
| স্ক্যানিং পদ্ধতি | XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল-স্যাম্পেল স্ক্যানিং |
| স্ক্যানিং পরিসীমা | 100 μm×100 μm×10 μm / 30 μm×30 μm×5 μm |
| Z-অক্ষ নয়েজ লেভেল | 0.04 nm |
| টিপ সুরক্ষা প্রযুক্তি | নিরাপদ সূঁচ সন্নিবেশ মোড |
| চিত্র নমুনা পয়েন্ট | 32×32-4096×4096 |
| অপারেটিং মোড | ট্যাপ মোড, কন্টাক্ট মোড, লিফট মোড, ফেজ ইমেজিং মোড |
| মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ | ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (কেপিএফএম), পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (পিএফএম), ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এমএফএম) |
