Microscópio de Força Atômica do tipo básico

Name: Microscópio de Força Atômica do tipo básico
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Explorador Atom
Availability: InStock

Nome do Produto Microscópio de Força Atômica do tipo Básico - AtomExplorer Introdução do Produto O Microscópio de Força Atômica do tipo Básico AtomExplorer oferece resolução sub-nanométrica para observar a topografia e a textura da superfície do material. Ele captura estruturas finas e caracter...

Etiquetas:

Microscópio AFM

Sistemas de AFM

Microscópio de sonda de varredura

Propriedades básicas

Lugar de origem: China

Nome da marca: Truth Instruments

Certification: /

Número do modelo: Explorador Atom

Propriedades comerciais

Quantidade mínima do pedido: 1

Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Condições de pagamento: T/T

Descrição do produto

Nome do Produto

Microscópio de Força Atômica do tipo Básico - AtomExplorer

Introdução do Produto

O Microscópio de Força Atômica do tipo Básico AtomExplorer oferece resolução sub-nanométrica para observar a topografia e a textura da superfície do material. Ele captura estruturas finas e características minúsculas nas superfícies dos materiais em escalas de nanômetros a micrômetros, fornecendo informações visuais detalhadas sobre a topografia da superfície de materiais, chips e outras amostras. Este produto também integra Microscopia de Força Magnética (MFM), Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Força Kelvin (KFM) e Microscopia de Força Atômica (AFM). Ele oferece alta estabilidade, excelente expansibilidade e serviços de personalização. Como uma ferramenta de caracterização topográfica de alta precisão e um dispositivo para medições magnéticas e elétricas em nanoescala, ele oferece opções e suporte adicionais para educação, pesquisa científica e P&D industrial.

Desempenho do Equipamento

Item	Detalhes
Tamanho da Amostra	Φ 25 mm
Método de Varredura	Varredura de Amostra Completa de Três Eixos XYZ
Faixa de Varredura	100 μm×100 μm×10 μm / 30 μm×30 μm×5 μm
Nível de Ruído do Eixo Z	0,04 nm
Tecnologia de Proteção da Ponta	Modo de Inserção Segura da Agulha
Pontos de Amostragem de Imagem	32×32-4096×4096
Modo de Operação	Modo Tap, Modo Contato, Modo Lift, Modo de Imagem de Fase
Medições Multifuncionais	Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscópio Kelvin de Varredura (KPFM), Microscópio de Força Piezoelétrica (PFM), Microscópio de Força Magnética (MFM)