Microscope à force atomique de type basique

Microscope de force atomique de type de base - AtomExplorer

Le microscope de force atomique de type AtomExplorer Basic offre une résolution inférieure aux nanomètres pour observer la topographie et la texture de la surface du matériau.Il capture des structures fines et des caractéristiques minuscules sur les surfaces des matériaux à des échelles allant de nanomètres à micromètres, fournissant des informations visuelles détaillées sur la topographie de la surface du matériau, de la puce et d'autres échantillons.Microscopie de la force de Kelvin (KFM)Il offre une grande stabilité, une excellente expandabilité et des services de personnalisation.En tant qu'outil de caractérisation topographique de haute précision et dispositif pour des mesures magnétiques et électriques à grande échelle, il offre des options et un soutien supplémentaires pour l'éducation, la recherche scientifique et la R & D industrielle.