Microscopio de fuerza atómica de tipo básico

Name: Microscopio de fuerza atómica de tipo básico
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Explorador de átomos
Availability: InStock

Nombre del producto Microscopio de fuerza atómica de tipo básico - AtomExplorer Introducción del producto El microscopio de fuerza atómica de tipo básico AtomExplorer ofrece una resolución subnanométrica para observar la topografía y la textura de la superficie del material.Captura estructuras finas ...

Etiquetas:

Microscopio AFM

Sistemas de AFM

Microscopio de sonda de exploración

Propiedades básicas

Lugar de origen: Porcelana

Nombre de la marca: Truth Instruments

Certification: /

Número de modelo: Explorador de átomos

Propiedades comerciales

Cantidad mínima de pedido: 1

Precio: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Condiciones de pago: T/T

Descripción de producto

Nombre del producto

Microscopio de fuerza atómica de tipo básico - AtomExplorer

Introducción del producto

El microscopio de fuerza atómica de tipo básico AtomExplorer ofrece una resolución subnanométrica para observar la topografía y la textura de la superficie del material.Captura estructuras finas y características minúsculas en superficies de materiales en escalas de nanómetros a micrómetrosEste producto también integra la microscopía de fuerza magnética (MFM), la microscopía de fuerza electrostática (EFM),Microscopía de la fuerza de Kelvin (KFM)Ofrece una alta estabilidad, una excelente capacidad de expansión y servicios de personalización.Como herramienta de caracterización topográfica de alta precisión y dispositivo para mediciones magnéticas y eléctricas a gran escala, proporciona opciones y apoyo adicionales para la educación, la investigación científica y la I+D industrial.

Rendimiento del equipo

Punto de trabajo	Detalles
Tamaño de la muestra	Φ 25 mm
Método de escaneo	XYZ Escaneo de muestra completa en tres ejes
Rango de exploración	Se utilizará para la fabricación de los materiales de ensayo de la siguiente forma:
Nivel de ruido del eje Z	0.04 nm
Tecnología de protección de punta	Modo seguro de inserción de la aguja
Puntos de muestreo de imágenes	32×32-4096×4096 y el número de unidades
Modo de funcionamiento	Modo de toque, modo de contacto, modo de elevación, modo de imagen de fase
Medidas multifuncionales	Microscopio de fuerza electrostática (EFM), microscopio de escaneo de Kelvin (KPFM), microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM), microscopio de fuerza magnética (MFM)