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Station de sonde cryogénique réfrigérée GM avec plage de température 4K-420K, courant de fuite électrique ultra-faible et multi-sonde (4-8 bras) pour la recherche avancée
GM Refrigerated Probe: 4K-420K, 4-8 Arms & I-V/C-V/Optoelectronic Research Advanced Cryogenic Probe Station The Cryogenic Probe Station is a state-of-the-art 0-67GHz microwave-compatible 4K cryogenic probe station designed for advanced research and development in low-temperature physics, semiconductor testing, and microwave device characterization. This integrated system offers exceptional precision and versatility for ultra-low temperature environments ranging from 4 K to
Détails de produit
Mettre en évidence:
Plage de température 4K-420K Station de sonde cryogénique
,Station de sonde à faible température à courant de fuite électrique ultra-faible
,Station de sonde cryogénique 4K multi-sonde (4-8 bras)
Vibration:
Vibration de l'étape d'échantillon <1 μm (pic à pic)
Thermal Anchor:
Différence de température entre le support de sonde et l'étage d'échantillonnage <10 K
Number Of Probe Arms:
Armes de sonde standard 4, jusqu'à 8 soutenus
Needing Range:
Besoin de portée
Electrical Leakage Current:
<100fA à 1V
Optical Microscope:
0,75 ×-3,75 × Zoom continu
Sample Temperature:
4 K-420 K
Sample Holder Type:
Options de terre, coaxiales et triaxiales
Propriétés de base
Nom de marque:
Truth Instruments
Numéro de modèle:
PS-Cryo
Description de produit
Probe réfrigérée GM: 4K-420K, 4-8 Arms & I-V/C-V/Optoélectronique
Station de sonde cryogénique avancée
La station de sonde cryogénique est une station de sonde cryogénique 4K compatible avec les micro-ondes 0-67 GHz conçue pour la recherche et le développement avancés en physique à basse température,essais de semi-conducteursCe système intégré offre une précision et une polyvalence exceptionnelles pour les environnements à très basse température allant de 4 K à 420 K.
Avec une stabilité de température remarquable de ± 1,20 mK sur toute la plage de fonctionnement, cette station de sonde assure des mesures cohérentes et fiables pendant des périodes d'essai prolongées.
Principales caractéristiques
- Nom du produit: station de sonde cryogénique PS-Cryo 4K
- Courant de fuite électrique: < 100fA@1V pour les mesures à très faible bruit
- Traction du bras de la sonde: mouvement X-Y-Z précis avec un déplacement de 50 mm, 25 mm et 25 mm respectivement
- Type de support d'échantillon: options polyvalentes, notamment support au sol, coaxial et triaxial
- Nombre de bras de sonde: bras de sonde standard 4 avec support jusqu'à 8 bras
- Plage de température de l'échantillon: de 4 K à 420 K pour diverses applications cryogéniques
- Des capacités optoélectroniques/micro-ondes cryogéniques multi-sonde (4-8 bras)
- Conception à faible vibration et à haut vide garantissant des mesures stables
Spécifications techniques
| Courant de fuite électrique | Pour les appareils de traitement des gaz |
| Stabilité à la température | ± < 1,20 mK (4 K à 420 K) |
| Plage de fréquences | 0-50 MHz avec câble coaxial à basse température, 0,1 GHz avec câble coaxial semi-rigide |
| Ancrage thermique | Différence de température entre le porte-sonde et le stade de l'échantillon < 10 K |
| Probe au micro-ondes | 0-40 GHz avec connecteur de type K, 0-67 GHz avec connecteur de 1,85 mm |
| Vibration | Vibration au stade de l'échantillon < 1 μm (de pic à pic) |
| Ancrage de l'échantillon | Diamètre du porte-échantillons jusqu'à 51 mm |
| Température de l'échantillon | 4 K à 420 K |
| Microscope optique | 0.75×-3.75× Zoom continu |
| Type de porte-échantillon | Options au sol, coaxial et triaxial |
Applications
La station de sonde cryogénique PS-Cryo est conçue pour des recherches avancées nécessitant des mesures précises à basse température.Ce système intégré contrôlé en un clic est idéal pour tester des semi-conducteurs de pointe, la recherche en informatique quantique et la caractérisation des dispositifs supraconducteurs.
Le système d'essai cryogénique en boucle fermée de réfrigération GM assure un refroidissement continu fiable tout en maintenant un environnement sous vide à basse température inférieur à 1,2 E-3 Pa,essentiels pour minimiser le bruit thermique et préserver l'intégrité de l'échantillon lors de mesures sensibles.
Servant les institutions académiques, les laboratoires nationaux et les installations de fabrication de semi-conducteurs, ce système polyvalent soutient le développement de transistors de nouvelle génération, la recherche en matériaux 2D,et applications spintroniques avec des performances et une fiabilité exceptionnelles.
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