logo

Microscopio a forza atomica

Qualità 0.1Hz - 30Hz Microscopio di forza atomica Microscopi di sonda di scansione su nanoscala fabbrica

0.1Hz - 30Hz Microscopio di forza atomica Microscopi di sonda di scansione su nanoscala

Microscopio avanzato di sonda di scansione per misurazioni su scala nanometrica Descrizione del prodotto: Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modo con risoluzione nanometrica.Renderlo uno strumento essenziale per varie ...

0.1Hz - 30Hz Microscopio di forza atomica Microscopi di sonda di scansione su nanoscala

Qualità Microscopio a forza atomica a scansione con modulazione di forza ad alta risoluzione per la scienza 0.04 Nm fabbrica

Microscopio a forza atomica a scansione con modulazione di forza ad alta risoluzione per la scienza 0.04 Nm

Microscopio a Forza Atomica a Scansione a Modulazione di Forza con Alta Risoluzione Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica è uno strumento all'avanguardia progettato per l'imaging e l'analisi ad alta risoluzione a livello nanoscopico. Con le sue capacità avanzate, questo microscopi...

Microscopio a forza atomica a scansione con modulazione di forza ad alta risoluzione per la scienza 0.04 Nm

Qualità Microscopio di forza atomica ad alta risoluzione 0,04 Nm Microscopio industriale per analisi su nanoscala fabbrica

Microscopio di forza atomica ad alta risoluzione 0,04 Nm Microscopio industriale per analisi su nanoscala

Microscopio a Forza Atomica ad Alta Risoluzione per l'Analisi su Scala Nanometrica Descrizione del Prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento versatile per l'analisi delle superfici, comunemente utilizzato in varie applicazioni scientifiche e industriali. Questo dispositivo all...

Microscopio di forza atomica ad alta risoluzione 0,04 Nm Microscopio industriale per analisi su nanoscala

Vista più