0.1Hz - 30Hz Microscopio di forza atomica Microscopi di sonda di scansione su nanoscala

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modo con risoluzione nanometrica.Renderlo uno strumento essenziale per varie applicazioni di ricerca e industriali.

Con una notevole risoluzione di 0,04 nm, l'AFM fornisce immagini e misurazioni di alta precisione della topografia superficiale a livello nanometrico.Questa eccezionale risoluzione consente a ricercatori e scienziati di esplorare e analizzare campioni con dettagli e precisione senza precedenti.

L'AFM offre una gamma versatile di modalità di scansione, tra cui modalità di contatto, tocco, non contatto, forza laterale e modulazione della forza.Questa funzionalità multifunzionale consente agli utenti di adattare l'AFM a diverse esigenze sperimentali., consentendo un'analisi completa e dettagliata di un'ampia gamma di campioni.

Dotato di una gamma di scansione di 100 μm X 100 μm X 10 μm, l'AFM fornisce una copertura ampia per la scansione di grandi aree di campionamento mantenendo le capacità di imaging ad alta risoluzione.Questa gamma di scansione consente di esaminare campioni di varie dimensioni, fino a 25 mm, garantendo la flessibilità nell'analisi e nella sperimentazione dei campioni.

L'AFM offre una gamma di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz, consentendo agli utenti di regolare la velocità di scansione in base ai requisiti specifici dei loro esperimenti.Questa flessibilità nella velocità di scansione garantisce un'acquisizione e un'analisi efficienti dei dati, migliorando la produttività e l'efficacia complessive dei processi di ricerca e analisi.

In sintesi, il Microscopio della Forza Atomica è uno strumento all'avanguardia che combina capacità di misurazione multi-modo, risoluzione nanometrica,e modalità di scansione multifunzionale per fornire a ricercatori e scienziati uno strumento potente per esplorare e analizzare campioni a livello nanoscale. Con la sua gamma di scansione versatile, l'immagine ad alta risoluzione e la velocità di scansione regolabile, l'AFM offre una soluzione completa per una vasta gamma di applicazioni di ricerca e industriali.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Risoluzione: 0,04 Nm
• Velocità di scansione: 0,1 Hz-30 Hz
• Stadio campionamento: stadio XY motorizzato con risoluzione di 100 μm
• Distanza di scansione: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Moduli di scansione: contatto, tocco, non contatto, forza laterale, modulazione della forza

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Truth Instruments presenta l'AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, uno strumento all'avanguardia progettato per l'imaging e la caratterizzazione su nanoscala in una varietà di applicazioni.Con le sue origini in Cina, questo microscopio avanzato offre una precisione e una versatilità senza pari per una vasta gamma di scenari di ricerca e industriali.

L'AtomEdge Pro dispone di una gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm, consentendo agli utenti di esplorare campioni con elevata risoluzione e precisione.Questo microscopio consente un posizionamento preciso e la scansione di campioni per analisi dettagliate.

Uno dei punti di forza principali dell'AtomEdge Pro risiede nelle sue modalità di scansione, che includono contatto, tocco, non contatto, forza laterale e modulazione della forza.Questa versatilità consente ai ricercatori di adattare il microscopio a diversi tipi di campioni e esigenze sperimentali, rendendolo ideale per l'imaging e la caratterizzazione su scala nanometrica.

I ricercatori possono regolare la velocità di scansione dell'AtomEdge Pro da 0,1 Hz a 30 Hz, fornendo flessibilità per catturare processi dinamici e dettagli sottili a livello nanometrico.04 Nm garantisce misure e immagini accurate, indispensabile per un'analisi approfondita delle proprietà del campione.

Grazie alle sue capacità avanzate e all'ingegneria di precisione, il microscopio AtomEdge Pro Atomic Force di Truth Instruments è adatto a una vasta gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto.Dalla scienza dei materiali e della ricerca sui semiconduttori agli studi biologici e all'analisi superficiale, questo microscopio a sonda di scansione offre prestazioni e affidabilità senza pari per indagini su scala nanometrica.