0.1Hz - 30Hz Mikroskop Kekuatan Atom Mikroskop Probe Pemindaian Nanoscale

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat canggih yang menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode dengan resolusi nanometer, menjadikannya instrumen penting untuk berbagai aplikasi penelitian dan industri.

Dengan resolusi luar biasa 0,04 nm, AFM memberikan pencitraan dan pengukuran topografi permukaan dengan presisi tinggi pada tingkat skala nano. Resolusi luar biasa ini memungkinkan peneliti dan ilmuwan untuk menjelajahi dan menganalisis sampel dengan detail dan akurasi yang belum pernah terjadi sebelumnya.

AFM menawarkan berbagai mode pemindaian serbaguna, termasuk mode Kontak, Tapping, Non-kontak, Gaya Lateral, dan Modulasi Gaya. Kemampuan multifungsi ini memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan AFM dengan persyaratan eksperimen yang berbeda, memungkinkan analisis komprehensif dan terperinci dari berbagai sampel.

Menampilkan rentang pemindaian 100 μm X 100 μm X 10μm, AFM memberikan cakupan yang cukup untuk memindai area sampel yang luas sambil mempertahankan kemampuan pencitraan resolusi tinggi. Rentang pemindaian ini memungkinkan pemeriksaan sampel dengan berbagai ukuran, hingga 25 mm, memastikan fleksibilitas dalam analisis sampel dan eksperimen.

AFM menawarkan rentang kecepatan pemindaian 0,1Hz hingga 30Hz, memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan kecepatan pemindaian berdasarkan persyaratan khusus dari eksperimen mereka. Fleksibilitas dalam kecepatan pemindaian ini memastikan perolehan dan analisis data yang efisien, meningkatkan produktivitas dan efektivitas keseluruhan dari proses penelitian dan analisis.

Singkatnya, Mikroskop Gaya Atom adalah instrumen canggih yang menggabungkan kemampuan pengukuran multi-mode, resolusi nanometer, dan mode pemindaian multifungsi untuk memberi peneliti dan ilmuwan alat yang ampuh untuk menjelajahi dan menganalisis sampel pada tingkat skala nano. Dengan rentang pemindaian yang serbaguna, pencitraan resolusi tinggi, dan kecepatan pemindaian yang dapat disesuaikan, AFM menawarkan solusi komprehensif untuk berbagai aplikasi penelitian dan industri.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Resolusi: 0,04 Nm
• Kecepatan Pemindaian: 0,1Hz-30Hz
• Meja Sampel: Meja XY Bermotor Dengan Resolusi 100 μm
• Rentang Pemindaian: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Mode Pemindaian: Kontak, Tapping, Non-kontak, Gaya Lateral, Modulasi Gaya

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments mempersembahkan Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro, alat canggih yang dirancang untuk pencitraan skala nano dan karakterisasi skala nano dalam berbagai aplikasi. Dengan asal-usulnya di China, mikroskop canggih ini menawarkan presisi dan keserbagunaan yang tak tertandingi untuk berbagai skenario penelitian dan industri.

AtomEdge Pro menampilkan rentang pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm, memungkinkan pengguna untuk menjelajahi sampel dengan resolusi dan akurasi tinggi. Dilengkapi dengan meja XY bermotor dengan resolusi 100 μm, mikroskop ini memungkinkan penempatan dan pemindaian sampel yang tepat untuk analisis terperinci.

Salah satu kekuatan utama AtomEdge Pro terletak pada mode pemindaiannya, yang mencakup kontak, tapping, non-kontak, gaya lateral, dan modulasi gaya. Keserbagunaan ini memungkinkan peneliti untuk menyesuaikan mikroskop dengan berbagai jenis sampel dan persyaratan eksperimen, menjadikannya ideal untuk pencitraan dan karakterisasi skala nano.

Peneliti dapat menyesuaikan kecepatan pemindaian AtomEdge Pro dari 0,1Hz hingga 30Hz, memberikan fleksibilitas untuk menangkap proses dinamis dan detail halus pada tingkat skala nano. Resolusi tinggi 0,04 Nm memastikan pengukuran dan pencitraan yang akurat, penting untuk analisis mendalam dari sifat sampel.

Dengan kemampuan canggih dan rekayasa presisi, Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro Truth Instruments cocok untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk. Dari ilmu material dan penelitian semikonduktor hingga studi biologi dan analisis permukaan, mikroskop probe pemindaian ini menawarkan kinerja dan keandalan yang tak tertandingi untuk penyelidikan skala nano yang menuntut.