0.1Hz - 30Hz Atomic Force Microscopie Nanoscopische Scanning Probe Microscopen

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument dat meerdere meetmogelijkheden biedt met een nanometerresolutie.Het maakt het een essentieel instrument voor verschillende onderzoeks- en industriële toepassingen..

Met een opmerkelijke resolutie van 0,04 nm biedt de AFM een zeer nauwkeurige afbeelding en meting van de oppervlaktetopografie op nanoschaalniveau.Deze uitzonderlijke resolutie stelt onderzoekers en wetenschappers in staat om monsters te onderzoeken en te analyseren met ongekende detail en nauwkeurigheid.

De AFM biedt een veelzijdig scala aan scannermodi, waaronder contact-, tap-, niet-contact-, laterale kracht- en krachtmodulatiemodi.Deze multifunctionaliteit stelt gebruikers in staat het AFM aan te passen aan verschillende experimentele vereisten., waardoor een uitgebreide en gedetailleerde analyse van een breed scala aan monsters mogelijk is.

Met een scanningbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm biedt de AFM een ruime dekking voor het scannen van grote steekproefgebieden met behoud van hoge-resolutie beeldvorming.Dit scanningbereik maakt het mogelijk om monsters van verschillende grootte te onderzoeken., maximaal 25 mm, zodat de proefanalyse en het experiment flexibel kunnen worden uitgevoerd.

De AFM biedt een scansnelheidsbereik van 0,1 Hz tot 30 Hz, waardoor gebruikers de scansnelheid kunnen aanpassen op basis van de specifieke vereisten van hun experimenten.Deze flexibiliteit in de scansnelheid zorgt voor een efficiënte data-opname en -analyse, het verbeteren van de algehele productiviteit en effectiviteit van onderzoek- en analyseprocessen.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een state-of-the-art instrument dat multi-mode meetmogelijkheden combineert, nanometer resolutie,De Commissie heeft de Commissie verzocht om een verslag uit te brengen over de resultaten van de evaluatie van de resultaten van de onderzoeksprocedure.Met zijn veelzijdige scanning, hoge resolutie en instelbare scansnelheid biedt de AFM een uitgebreide oplossing voor een breed scala aan onderzoeks- en industriële toepassingen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Resolutie: 0,04 Nm
• Scansnelheid: 0,1 Hz-30 Hz
• Proefstap: gemotoriseerde XY-stap met een resolutie van 100 μm
• Scanningbereik: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Scanningsmodi: contact, aanraking, niet-contact, zijdelingse kracht, krachtmodulatie

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments presenteert de AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor nano-beeldvorming en nano-charakterisering in verschillende toepassingen.Met oorsprong in China, biedt deze geavanceerde microscoop een ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid voor een breed scala aan onderzoeks- en industriële scenario's.

De AtomEdge Pro beschikt over een scanningbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm, waardoor gebruikers monsters met hoge resolutie en nauwkeurigheid kunnen verkennen.Deze microscoop maakt een nauwkeurige positionering en scanning van monsters mogelijk voor gedetailleerde analyse..

Een van de belangrijkste sterke punten van de AtomEdge Pro ligt in de scannermodi, waaronder contact, tikken, niet-contact, zijdelingse kracht en krachtmodulatie.Deze veelzijdigheid stelt onderzoekers in staat de microscoop aan te passen aan verschillende monstersoorten en experimentele vereisten, waardoor het ideaal is voor beeldvorming en karakterisering op nanoschaal.

Onderzoekers kunnen de scansnelheid van de AtomEdge Pro aanpassen van 0,1 Hz tot 30 Hz, waardoor ze flexibiliteit hebben om dynamische processen en fijne details op nanoschaalniveau vast te leggen.04 Nm zorgt voor nauwkeurige metingen en beeldvorming, die essentieel zijn voor een grondige analyse van de eigenschappen van de monsters.

Met zijn geavanceerde mogelijkheden en nauwkeurige techniek is de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope geschikt voor een breed scala aan producttoepassingen.Van materiaalwetenschappen en halfgeleideronderzoek tot biologische studies en oppervlaktanalyse, deze scansonde microscoop biedt ongeëvenaarde prestaties en betrouwbaarheid voor veeleisende nanoschaalonderzoeken.