กล้องจุลทรรศน์โพรบสแกนขนาดนาโนเมตรสำหรับอะตอมมิกฟอร์ซ 0.1Hz - 30Hz

รายละเอียดสินค้า:

กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู (AFM) เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่นำเสนอความสามารถในการวัดแบบหลายโหมดด้วยความละเอียดระดับนาโนเมตร ทำให้เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับการวิจัยและการใช้งานในอุตสาหกรรมต่างๆ

ด้วยความละเอียดที่น่าทึ่ง 0.04 นาโนเมตร AFM ให้ภาพและการวัดความแม่นยำสูงของลักษณะพื้นผิวในระดับนาโนสเกล ความละเอียดพิเศษนี้ช่วยให้นักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์สามารถสำรวจและวิเคราะห์ตัวอย่างได้อย่างละเอียดและแม่นยำอย่างที่ไม่เคยมีมาก่อน

AFM นำเสนอโหมดการสแกนที่หลากหลาย รวมถึงโหมด Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force และ Force Modulation ความสามารถแบบมัลติฟังก์ชันนี้ช่วยให้ผู้ใช้สามารถปรับ AFM ให้เข้ากับข้อกำหนดในการทดลองที่แตกต่างกัน ทำให้สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างได้หลากหลายอย่างครอบคลุมและละเอียด

ด้วยช่วงการสแกน 100 μm X 100 μm X 10μm AFM ให้การครอบคลุมที่เพียงพอสำหรับการสแกนพื้นที่ตัวอย่างขนาดใหญ่ในขณะที่ยังคงรักษาความสามารถในการถ่ายภาพความละเอียดสูง ช่วงการสแกนนี้ช่วยให้สามารถตรวจสอบตัวอย่างที่มีขนาดแตกต่างกันได้ถึง 25 มม. ทำให้มั่นใจได้ถึงความยืดหยุ่นในการวิเคราะห์ตัวอย่างและการทดลอง

AFM มีช่วงความเร็วในการสแกนตั้งแต่ 0.1Hz ถึง 30Hz ทำให้ผู้ใช้สามารถปรับความเร็วในการสแกนตามความต้องการเฉพาะของการทดลองได้ ความยืดหยุ่นในความเร็วในการสแกนนี้ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการได้มาและการวิเคราะห์ข้อมูลอย่างมีประสิทธิภาพ ซึ่งช่วยเพิ่มประสิทธิภาพและประสิทธิผลโดยรวมของกระบวนการวิจัยและการวิเคราะห์

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณูเป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งผสมผสานความสามารถในการวัดแบบหลายโหมด ความละเอียดระดับนาโนเมตร และโหมดการสแกนแบบมัลติฟังก์ชัน เพื่อให้นักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์มีเครื่องมืออันทรงพลังสำหรับการสำรวจและวิเคราะห์ตัวอย่างในระดับนาโนสเกล ด้วยช่วงการสแกนที่หลากหลาย การถ่ายภาพความละเอียดสูง และความเร็วในการสแกนที่ปรับได้ AFM นำเสนอโซลูชันที่ครอบคลุมสำหรับการวิจัยและการใช้งานในอุตสาหกรรมที่หลากหลาย

คุณสมบัติ:

• ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
• ความละเอียด: 0.04 นาโนเมตร
• ความเร็วในการสแกน: 0.1Hz-30Hz
• Sample Stage: Motorized XY Stage พร้อมความละเอียด 100 μm
• ช่วงการสแกน: 100 μm X 100 μm X 10μm
• โหมดการสแกน: Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

การใช้งาน:

Truth Instruments นำเสนอ Atomic Force Microscope AtomEdge Pro ซึ่งเป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการถ่ายภาพระดับนาโนและลักษณะเฉพาะระดับนาโนในแอปพลิเคชันที่หลากหลาย ด้วยต้นกำเนิดในประเทศจีน กล้องจุลทรรศน์ขั้นสูงนี้มีความแม่นยำและความสามารถรอบด้านที่เหนือชั้นสำหรับสถานการณ์การวิจัยและอุตสาหกรรมที่หลากหลาย

AtomEdge Pro มีช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm ทำให้ผู้ใช้สามารถสำรวจตัวอย่างด้วยความละเอียดและความแม่นยำสูง กล้องจุลทรรศน์นี้ติดตั้ง XY stage แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm ช่วยให้สามารถวางตำแหน่งและสแกนตัวอย่างได้อย่างแม่นยำสำหรับการวิเคราะห์โดยละเอียด

หนึ่งในจุดแข็งที่สำคัญของ AtomEdge Pro อยู่ที่โหมดการสแกน ซึ่งรวมถึง contact, tapping, non-contact, lateral force และ force modulation ความสามารถรอบด้านนี้ช่วยให้นักวิจัยสามารถปรับกล้องจุลทรรศน์ให้เข้ากับประเภทตัวอย่างและความต้องการในการทดลองที่แตกต่างกัน ทำให้เหมาะสำหรับการถ่ายภาพและลักษณะเฉพาะระดับนาโน

นักวิจัยสามารถปรับความเร็วในการสแกนของ AtomEdge Pro ได้ตั้งแต่ 0.1Hz ถึง 30Hz ทำให้มีความยืดหยุ่นในการจับภาพกระบวนการแบบไดนามิกและรายละเอียดเล็กๆ น้อยๆ ในระดับนาโน ความละเอียดสูง 0.04 นาโนเมตรช่วยให้มั่นใจได้ถึงการวัดและการถ่ายภาพที่แม่นยำ ซึ่งจำเป็นสำหรับการวิเคราะห์คุณสมบัติของตัวอย่างเชิงลึก

ด้วยความสามารถขั้นสูงและวิศวกรรมที่แม่นยำ กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู Truth Instruments AtomEdge Pro เหมาะสำหรับโอกาสและสถานการณ์การใช้งานผลิตภัณฑ์ที่หลากหลาย ตั้งแต่วิทยาศาสตร์วัสดุและการวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ไปจนถึงการศึกษาทางชีวภาพและการวิเคราะห์พื้นผิว กล้องจุลทรรศน์โพรบสแกนนี้ให้ประสิทธิภาพและความน่าเชื่อถือที่ไม่มีใครเทียบได้สำหรับการตรวจสอบระดับนาโนที่ต้องการ