0.1Hz - 30Hz Mikroskop siły atomowej Mikroskopy sondy skanującej w nanoskali

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejsze narzędzie, które oferuje możliwości pomiaru w wielu trybach z rozdzielczością nanometrową, co czyni go niezbędnym instrumentem dla różnych zastosowań badawczych i przemysłowych.

Dzięki niezwykłej rozdzielczości 0,04 nm, AFM zapewnia precyzyjne obrazowanie i pomiar topografii powierzchni na poziomie nanometrowym. Ta wyjątkowa rozdzielczość pozwala naukowcom i badaczom na eksplorację i analizę próbek z niespotykaną szczegółowością i dokładnością.

AFM oferuje wszechstronny zakres trybów skanowania, w tym tryby kontaktowy, tapping, bezkontaktowy, siły bocznej i modulacji siły. Ta wielofunkcyjna zdolność pozwala użytkownikom dostosować AFM do różnych wymagań eksperymentalnych, umożliwiając kompleksową i szczegółową analizę szerokiej gamy próbek.

Wyposażony w zakres skanowania 100 μm X 100 μm X 10μm, AFM zapewnia duży zasięg do skanowania dużych obszarów próbek przy jednoczesnym zachowaniu możliwości obrazowania o wysokiej rozdzielczości. Ten zakres skanowania pozwala na badanie próbek o różnych rozmiarach, do 25 mm, zapewniając elastyczność w analizie próbek i eksperymentach.

AFM oferuje zakres prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz, co pozwala użytkownikom na dostosowanie prędkości skanowania w oparciu o specyficzne wymagania ich eksperymentów. Ta elastyczność w prędkości skanowania zapewnia efektywne pozyskiwanie i analizę danych, zwiększając ogólną produktywność i efektywność procesów badawczych i analitycznych.

Podsumowując, mikroskop sił atomowych to najnowocześniejsze urządzenie, które łączy w sobie możliwości pomiaru w wielu trybach, rozdzielczość nanometrową i wielofunkcyjne tryby skanowania, aby zapewnić naukowcom i badaczom potężne narzędzie do eksploracji i analizy próbek na poziomie nanometrowym. Dzięki wszechstronnemu zakresowi skanowania, obrazowaniu o wysokiej rozdzielczości i regulowanej prędkości skanowania, AFM oferuje kompleksowe rozwiązanie dla szerokiego zakresu zastosowań badawczych i przemysłowych.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop sił atomowych
• Rozdzielczość: 0,04 Nm
• Prędkość skanowania: 0,1 Hz-30 Hz
• Stolik próbki: Zmotoryzowany stolik XY z rozdzielczością 100 μm
• Zakres skanowania: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Tryby skanowania: Kontaktowy, Tapping, Bezkontaktowy, Siły bocznej, Modulacji siły

Parametry techniczne:

Zastosowania:

Truth Instruments prezentuje mikroskop sił atomowych AtomEdge Pro, najnowocześniejsze narzędzie przeznaczone do obrazowania i charakteryzacji w nanoskali w różnych zastosowaniach. Pochodzący z Chin, ten zaawansowany mikroskop oferuje niezrównaną precyzję i wszechstronność dla szerokiego zakresu scenariuszy badawczych i przemysłowych.

AtomEdge Pro charakteryzuje się zakresem skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm, co pozwala użytkownikom na eksplorację próbek z wysoką rozdzielczością i dokładnością. Wyposażony w zmotoryzowany stolik XY z rozdzielczością 100 μm, mikroskop ten umożliwia precyzyjne pozycjonowanie i skanowanie próbek w celu szczegółowej analizy.

Jedną z kluczowych zalet AtomEdge Pro są jego tryby skanowania, które obejmują kontaktowy, tapping, bezkontaktowy, siły bocznej i modulacji siły. Ta wszechstronność pozwala naukowcom dostosować mikroskop do różnych typów próbek i wymagań eksperymentalnych, co czyni go idealnym do obrazowania i charakteryzacji w nanoskali.

Naukowcy mogą regulować prędkość skanowania AtomEdge Pro w zakresie od 0,1 Hz do 30 Hz, co zapewnia elastyczność w rejestrowaniu procesów dynamicznych i drobnych szczegółów na poziomie nanometrowym. Wysoka rozdzielczość 0,04 Nm zapewnia dokładne pomiary i obrazowanie, niezbędne do dogłębnej analizy właściwości próbek.

Dzięki zaawansowanym możliwościom i precyzyjnej konstrukcji, mikroskop sił atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro nadaje się do szerokiego zakresu zastosowań i scenariuszy. Od nauki o materiałach i badań nad półprzewodnikami po badania biologiczne i analizę powierzchni, ten mikroskop skaningowy oferuje niezrównaną wydajność i niezawodność w wymagających badaniach w nanoskali.