0.1Hz - 30Hz Atomkraftmikroskop Mikroskope für Nanoskala-Scan-Sonden

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Werkzeug, das mehrmodische Messfunktionen mit Nanometer-Auflösung bietet.Es ist ein wichtiges Instrument für verschiedene Forschungs- und industrielle Anwendungen..

Mit einer bemerkenswerten Auflösung von 0,04 nm liefert das AFM eine hochpräzise Bildgebung und Messung der Oberflächentopographie auf Nanobereichsebene.Diese außergewöhnliche Auflösung ermöglicht es Forschern und Wissenschaftlern, Proben mit noch nie dagewesener Detailliertheit und Genauigkeit zu untersuchen und zu analysieren.

Der AFM bietet eine vielseitige Palette von Scanning-Modi, einschließlich Kontakt-, Tapping-, Kontaktlos-, Lateral Force- und Force-Modulationsmodi.Diese Multifunktionsfähigkeit ermöglicht es den Nutzern, den AFM an verschiedene Versuchsanforderungen anzupassen., die eine umfassende und detaillierte Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht.

Mit einem Scanning-Bereich von 100 μm X 100 μm X 10 μm bietet das AFM eine ausreichende Abdeckung für die Scanning großer Probenflächen bei gleichzeitiger Aufrechterhaltung hochauflösender Bildgebungsmöglichkeiten.Dieser Scanbereich ermöglicht die Untersuchung von Proben unterschiedlicher Größe, bis zu 25 mm, so daß die Probenanalyse und das Experimentieren flexibel durchgeführt werden können.

Das AFM bietet einen Scanning-Geschwindigkeitsbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz, so dass Benutzer die Scanning-Geschwindigkeit anhand der spezifischen Anforderungen ihrer Experimente anpassen können.Diese Flexibilität bei der Scangeschwindigkeit sorgt für eine effiziente Datenerfassung und -analyse, die Gesamtproduktivität und Effektivität der Forschungs- und Analyseprozesse zu verbessern.

Zusammenfassend ist das Atomkraftmikroskop ein hochmodernes Instrument, das Multimode-Messfunktionen, Nanometer-Auflösung,und multifunktionale Scanning-Modi, um Forschern und Wissenschaftlern ein leistungsfähiges Instrument zur Erforschung und Analyse von Proben auf Nanobereich zu bietenMit seinem vielseitigen Scanning-Bereich, hochauflösenden Bildern und verstellbarer Scanning-Geschwindigkeit bietet das AFM eine umfassende Lösung für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Auflösung: 0,04 Nm
• Geschwindigkeit des Scannens: 0,1 Hz-30 Hz
• Probenstufe: Motorisierte XY-Stufe mit 100 μm Auflösung
• Messbereich: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Scanning-Modi: Kontakt, Berührung, Berührungslosigkeit, seitliche Kraft, Kraftmodulation

Technische Parameter:

Anwendungen:

Truth Instruments präsentiert das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, ein hochmodernes Werkzeug, das für die Nanobildgebung und Nanocharakterisierung in einer Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde.Aus China stammt, bietet dieses fortschrittliche Mikroskop eine beispiellose Präzision und Vielseitigkeit für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrie-Szenarien.

Der AtomEdge Pro verfügt über einen Scanning-Bereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm, so dass Benutzer Proben mit hoher Auflösung und Genauigkeit erforschen können.Dieses Mikroskop ermöglicht eine präzise Positionierung und das Scannen von Proben zur detaillierten Analyse..

Eine der wichtigsten Stärken des AtomEdge Pro liegt in seinen Scanmodi, die Kontakt, Tippen, Berührungslosigkeit, seitliche Kraft und Kraftmodulation umfassen.Diese Vielseitigkeit ermöglicht es den Forschern, das Mikroskop an verschiedene Probentypen und Versuchsanforderungen anzupassen, so dass es ideal für Nano-Bildgebung und Charakterisierung ist.

Die Forscher können die Scangeschwindigkeit des AtomEdge Pro von 0,1 Hz auf 30 Hz einstellen, wodurch sie flexibel dynamische Prozesse und feine Details auf Nanomassenebene erfassen können.04 Nm sorgt für genaue Messungen und Bildgebung, die für eine eingehende Analyse der Probeneigenschaften unerlässlich sind.

Das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments eignet sich mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und seiner Präzisionstechnik für eine Vielzahl von Anwendungsfällen und Szenarien.Von der Materialwissenschaft und der Halbleiterforschung über biologische Studien und Oberflächenanalysen, bietet dieses Sondenmikroskop eine unübertroffene Leistung und Zuverlässigkeit für anspruchsvolle Untersuchungen im Nanobereich.